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熱分析屋さんのつぶやき
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第1回 熱分析屋さん
第2回 温度が違う その1
第3回 等温結晶化の温度
第4回 ポリマーの切り出し
第5回 荷重って
第6回 比熱の精度
第7回 繰り返し測定の意味って
第8回 横軸が時間?
第9回 分解点?
第10回 降温と昇温の違いは?
第11回 降温と昇温の違いは?その2
第12回 “ガラス転移ってピークになるの?”の前の新年の装置確認の話
第13回 ガラス転移ってピークになるの?
第14回 測定雰囲気をどうしよう...
第15回 温度が違う その2
第16回 水って難しい
第17回 DSCってピークを見る装置じゃないの?
第18回 JIS K 7123の比熱測定って何に気を付けるの?
第19回 JIS K 7123の比熱測定って何に気を付けるの?熱流束編その2@解決編
第20回 (番外編)熱分析って難しすぎ...
第21回 JIS K 7123の比熱測定って何に気を付けるの?入力補償DSC編
第22回 JIS K 7123の比熱測定って何に気を付けるの?入力補償DSC編その2、の前のインジウム作らなきゃ
第23回 “熱分析屋さんのつぶやきの裏側”はじめます。
第23回 “熱分析屋さんのつぶやきの裏側”はじめます。トップ
熱分析関連図書(筆者推薦)
第24回 JIS K 7123の比熱測定って何に気を付けるの?入力補償DSC編その2
第25回 ん?弾性率があわない?DMA編
第26回 “熱分析ってエラーに気づきにくい”かも...
第27回 熱分析のはじめの一歩は5月なのかも
第28回 GOTOトラベルGOTOイートなのでGOTO熱分析という安易なタイトルの件
第29回 “熱を操れ”に乗っかった熱分析を操れないって話...
第30回 熱分析を操ることになってしまった話
第31回 DMA取っておけばよかった
第32回 分析結果の判断のしかたの続きって...つぶやきムービー公開します
第32回 分析結果の判断のしかたの続きって...つぶやきムービー公開しますトップ
第32回 熱分析動画:等温結晶化の測定と解析手順
第33回 (号外)結晶化のピークに再現性がないって話
第34回 容器を間違えたら大変の話
ICP-OESラボのあれこれ
ICP-OESラボのあれこれトップ
ICP-OESラボのあれこれ 目次
第1回 真値と期待値の狭間で
第2回 イオン化干渉との戦いの日々
第3回 プラズマガス流量は少ない方がいい!
第4回 ICP-OES検出下限の計算方法
第5回 有機溶媒の直接導入
第6回 より高感度に測定するためのノウハウ1~超音波ネブライザー編~
第7回 迅速分析のコツ1~無駄な時間を減らそう~
第8回 水素化物発生ICP法のメリットとデメリット
第9回 続・水素化物発生ICP法 ~前処理について~
第10回 ラジアル観測高さの最適位置とは?~発光強度の違いから考察してみた~
第11回 測定積分時間は何秒に設定していますか?それは適切な値ですか?
第12回 ナトリウムとカリウムをICP発光で定量できていますか?
第13回 どんなネブライザーを使っていますか?
第14回 濃度や検出下限値の表記“ppm”で生まれる誤解
第15回 検量線の範囲や測定点数に決まりはあるのか?
第16回 データ解析ソフトを利用して感じた分析化学における多角度からの解析の重要性
第17回 定性分析をどうやるか
第18回 ICP発光の細かい使い方講座1~積分時間と繰り返し回数、定量精度とコスト~
第19回 ICP発光の細かい使い方講座2 ~測定波長の選択と分光器パージ~
第20回 ICPで簡単に類似サンプルや不良品を見分ける方法
第21回 ICP発光の細かい使い方講座3 ~キャリヤーガス流量の選択~
第22回 検量線の直線性と、検出下限値と定量下限値の間は定量できるのか?について考えてみた~ICP発光の場合~
第23回 カリウムをICP発光で正しく測定するためのテクニック(イオン化抑制剤を再考してみた)
第24回 ICPのポンプチューブ、最適な太さを選んだことありますか?~ポンプチューブ内径と、ばらつきの関係を見てみよう~
第25回 低分解能/高分解能モードをAvio500で使い分けるコツ
第26回 微量カリウムをICPで測定するためのメソッド~チャンピオンデータを目指して~
第27回 検量線の直線性の指標である相関係数って大事ですか?
第28回 ICPの再現性、測定のばらつき、相対標準偏差(RSD)を可能な限り向上させるテクニック(第1話/全3話)
第29回 ICPの再現性、測定のばらつき、相対標準偏差(RSD)を可能な限り向上させるテクニック(第2話/全3話)
第30回 ICPの再現性、測定のばらつき、相対標準偏差(RSD)を可能な限り向上させるテクニック(第3話/全3話)
第31回 ICP発光で1%(10,000ppm)まで検量線を書けるのか?
第32回 同軸形ネブライザーをチャンバーにつける深さを気にしたことはありますか?
第33回 セシウム(Cs)をICP発光で1ppbまで測定するためのテクニック紹介(第1話/全2話)
第34回 ICP-OESでハロゲンって測定できますか?(塩素、臭素、ヨウ素)
第35回 分光干渉特集1 リン(P)に対する銅(Cu)の分光干渉を例に
第36回 分光干渉特集2 具体的に分光干渉ってどんなものがあるの?
第37回 「繰返し測定回数」を増やしても測定RSDは改善されないという話題
第38回 ICP発光で硝酸由来のN2、NH2、NOの二原子分子による分子スペクトル線が集合した発光線(バンドスペクトル)の存在は、分光干渉となりえるのか?!の問題について
第39回 分光干渉特集3 鉄(Fe)マトリックスによる分光干渉スペクトルを紹介
第40回 分光干渉特集4 銅(Cu)マトリックスによる分光干渉スペクトルを紹介
第41回 分光干渉特集5 コバルト(Co)マトリックスによる分光干渉スペクトルを紹介
第42回 アキシャルはラジアルよりバックグランドが下がるのか上がるのか議論に決着をつけたい ~ゆくゆくは高感度化に必要なことは何かを考える第一歩~
第43回 プラズマの最適観測位置にはどれくらいの幅があるのか?~どこから採光するかで定量値が変わる!?第1/2話~
第44回 ラジアル測光の観測高さ位置が定量値に与える影響(イオン化干渉)について~どこから採光するかで定量値が変わる!?第2/2話~
第45回 これが現実!内標準補正法に使う内標準元素は何が良いのか?そもそも検量線法より良いのか?
第46回 検量線法の危うさと、内標準補正法の使い方(物理干渉の補正)について~硝酸濃度の問題提議~
第47回 検量線法が無理なら内標準補正をうまく使うしかない~内標準元素の選定、元素・波長毎のイオン化干渉挙動を把握すれば使えるはず~
第48回 検量線法では対応できないサンプルに、内標準補正法を適用しよう(カドミウムや鉛などのイオン線の内標準元素を選ぶ)
第49回 ICP-OESでもネブライザーガス流量の調整は必要?
第50回 分光干渉特集6 金(Au)由来の分光干渉事例から考える波長選択と対策
第51回 多点の検量線を作成すべき時ってどんな時?(検量線の範囲や測定点数の問題について)
第52回 低濃度域を測定するときの検量線はどう設定するほうが良いか?~検出されないことを確認する分析目的などの検量線範囲と濃度設定、検量線式の選択について~
第53回 標準添加法は測定値がばらつく、その対策について
第54回 ICPのポンプチューブをどう収納するか
第55回 ICPで添加回収率の確認実験手順を図で解説~その定量値が妥当かを判断するために~
第56回 ICP-OESではバックグランド補正がデフォルト設定である理由と、どのような補正かについて図解
第57回 ICP-OESのイオン化干渉対策としての抑制剤の利用と、効果的な添加調製濃度は?
第58回 ICP発光で標準添加法ってどうやるの?具体的な作業内容を図解
第59回 ICPプラズマ点灯の安定待ち時間について
第60回 ICPブログウェビナーでいただいたご質問をピックアップして深掘り解説
第61回 続・ICPブログウェビナーでいただいたご質問をピックアップして深掘り解説2 ~ネブライザーの洗浄方法、有機溶媒でアルカリ金属を測定するテクニック~
ICP-MSラボのあれこれ
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第1回 あなたの調製した1%硝酸は何%硝酸?
第2回 あなたの調製した検量線用標準液は問題ないですか?
第3回 あなたの調製した検量線用標準液は問題ないですか?- 2
第4回 あなたの調製した検量線用標準液は問題ないですか?- 3
第5回 添加回収実験を実施していますか?
第6回 測定するサンプルを理解していますか?
第7回 ICP質量分析装置の感度調整とは出来るだけ感度を高くすること?
第8回 難しいサンプルを測定するときはロバストなプラズマで?
第9回 ICP質量分析装置でナノ粒子の粒度分布の測定ができる?
第10回 なぜ、ICP質量分析装置での反応セルは四重極マスフィルターの方がいいの?
第11回 ICP質量分析装置でのクラスター法(マスシフト法)って何?
第12回 コリジョンガスに用いるヘリウムガスの代替えは無いの?
第13回 ICP質量分析装置でAsを測定する場合、価数を気にしていますか?
第14回 ICP質量分析装置で使用するコリジョン法とリアクション法はどう使い分けするの?
第15回 ICP質量分析装置で使用するRPaとRPqって何?
第16回 ICP質量分析装置で超微量分析を行う時の問題点って何?
第17回 ICP質量分析装置の感度が前処理によって変わるって本当??
第18回 プラズマ分光分析研究会 筑波セミナーで質問の多かった「リアクション法による干渉除去」について解説します。(第1話/全2話)
第19回 プラズマ分光分析研究会 筑波セミナーで質問の多かった「リアクション法による干渉除去」について解説します。(第2話/全2話)
第20回 ICP質量分析法で有機溶媒って測定できるの?-1
第21回 ICP質量分析法で有機溶媒って測定できるの?-2
第22回 Heガス不足対策!ICP質量分析法による水道水、河川水の測定にHeガスがなくても大丈夫!
第23回 Heガス不足対策!ICP質量分析法で水道水をHeなしで測定してみた!(ArとN2のみ)
第24回 ICP質量分析法で測定する質量数m/zやセルの条件はどうやって選択するの?-1
第25回 ICP質量分析法で測定する質量数m/zやセルの条件はどうやって選択するの?-2
第26回 固体試料の分析にはXRFとICP-MSのどっちがいいの?
第27回 数学的干渉補正法(干渉補正式)って本当に大丈夫なの?
第28回 固体試料を酸分解して沈殿物が無ければ測定結果に問題は無いか?
前処理、AASラボのあれこれ
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第1回 もう怖くない! マイクロ波前処理装置 ~前編~
第2回 もう怖くない! マイクロ波前処理装置 ~後編~
第3回 希釈する? そのままやっちゃう? フレーム原子吸光分析での高濃度域の測定
クロマト分析 日々のQ&A
クロマト分析 日々のQ&Aトップ
第1回 ガスクロマトグラフと液体クロマトグラフの違いは?
第2回 ガスクロマトグラフのカラムって何?
第3回 ガスクロマトグラフのカラムの固定相にはどんな種類があってどう選ぶの?
第4回 HPLCのカラムの選び方は?
第5回 ガスクロマトグラフの検出器には何があって、特徴は何?
第6回 質量分析計(MS)って何?その原理と測定方法は?
第7回 GC/MSの前処理装置(サンプラー)について
第8回 ヘッドスペースサンプラー(HS)について
第9回 ヘッドスペースサンプラー(HS)を用いた定量分析とコツ
第10回 ヘッドスペースサンプラー(HS)を用いた分析のコツ-その2-
第11回 トラップサンプラーについて
第12回 トラップサンプラーの高感度分析に迫る!
第13回 サーマルデソープションシステムについて
第14回 サーマルデソープションシステムを用いた分析のトラブルシューティング
第15回 サーマルデソープションシステムの便利機能
第16回 ガスクロマトグラフィーを用いた定性分析のコツ
第17回 ガスクロマトグラフィーを用いた定性分析のコツ-その2-
第18回 ガスクロマトグラフィーを用いた定性分析のコツ-その3-
第19回 キャリアガスの純度は分析結果に影響する?
第20回 キャリアガスが漏れたら?漏れはどのように検知する?
第21回 新品のカラムはそのまま使って大丈夫?
第22回 カラムをGCに取り付ける時のコツや注意点ってあるの?
第23回 分析条件はどのように決める?
第24回 試料導入のイロハ~その1・インサートの選び方~
第25回 試料導入のイロハ~その2・ディスクリミネーションを防ごう~
第26回 試料導入のイロハ~その3・ディスクリミネーションを防ぐオートサンプラーの活用~
第27回 試料導入のイロハ~その4・サンプルの注入法の選び方~
第28回 試料導入のイロハ~その5・ピークの広がりを抑えよう!~
第29回 試料導入のイロハ~その6・マイクロシリンジをうまく使いこなそう!~
第30回 シリンジのメンテナンスとオートサンプラー使用時の注意点
FTIR Blog
FTIR Blogトップ
FTIR Blog 目次
第1回 今日はブログの紹介・・・
第2回 液体気密IRセルを使用した測定について
第3回 ソフトを使用した定量計算について
第4回 ブログをリニューアルしました!
第5回 短時間で良いスペクトルを得るための測定条件(1) 積算回数
第6回 短時間で良いスペクトルを得るための測定条件(2) 分解能
第7回 短時間で良いスペクトルを得るための測定条件(3) 波数範囲
第8回 ATRクリスタル洗浄時の溶剤選択と注意点
第9回 定量分析 ピークの定量編
第10回 定量分析 単回帰分析編
第11回 定量分析 多変量回帰分析編
第12回 データベース検索を活用した異物の分析解析方法
第13回 差スペクトルの取り方
第14回 アルコール消毒液中のエタノール・イソプロパノール濃度推定
第15回 ライブラリの活用方法
第16回 多成分検索機能で混合物分析
第17回 多成分検索の応用 半定量分析
第18回 新発売ハイエンドFTIR JASISで国内初出展します!
第19回 そのピークの肩にある小さなピーク、見逃してませんか?
第20回 スペクトルの微分でピークを分離してみよう
第21回 微分スペクトルのピークを定量してみよう
第22回 FTIRによる品質検査 -不良品の市場流出を防ぐ-
第23回 FTIRによる品質検査 -良品のばらつきを考慮する-
第24回 異物スペクトルの解析① 有機物か?無機物か?
第25回 異物スペクトルの解析② ポリエチレン
第26回 異物スペクトルの解析③ ポリプロピレン
第27回 異物スペクトルの解析④ スチレン系樹脂
第28回 異物スペクトルの解析⑤ ポリ塩化ビニル (塩ビ樹脂)
第29回 異物スペクトルの解析⑥ アクリル樹脂
第30回 異物スペクトルの解析⑦ ポリエステル
第31回 異物スペクトルの解析⑧ ナイロン(ポリアミド)とタンパク質
第32回 異物スペクトルの解析⑨ セルロース
第33回 異物スペクトルの解析⑩ ニトリル系樹脂
第34回 異物スペクトルの解析⑪ ポリウレタン
第35回 異物スペクトルの解析⑫ ポリカーボネート
第36回 異物スペクトルの解析⑬ シリコーン樹脂
第37回 異物スペクトルの解析⑭ フッ素樹脂
第38回 異物スペクトルの解析⑮ イミド系樹脂
第39回 異物スペクトルの解析⑯ エポキシ樹脂
第40回 異物スペクトルの解析⑰ エチレン酢酸ビニル(EVA)樹脂
第41回 異物スペクトルの解析⑱ ポリアセタール(POM)
第42回 異物スペクトルの解析⑲ 芳香族ポリエーテルケトン(PEEK)
第43回 異物スペクトルの解析⑳ 芳香族ポリスルフィド(PPS, PES)
第44回 異物スペクトルの解析㉑ 無機酸化物(シリカ, ガラス)
第45回 異物スペクトルの解析㉒ 無機酸化物(アルミナ, 酸化鉄)
第46回 異物スペクトルの解析㉓ 無機酸化物(酸化チタン, 酸化亜鉛)
第47回 異物スペクトルの解析㉔ 無機水酸化物
第48回 異物スペクトルの解析㉕ 無機ケイ酸塩(タルク・カオリン)
第49回 異物スペクトルの解析㉖ 無機炭酸塩(炭酸カルシウム等)
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フィルムやコーティングの特性を徹底的に調査し、より深く理解することができます。当社の最新鋭機器は、産業用途で広く使用されている数多くの技術やアプリケーションをサポートしています。
温度、湿度、溶解媒体、周波数の関数として材料の剛性を測定し、ガラス転移、結晶化度、剛性挙動をより適切に評価します。
鏡面反射を識別して、光が固体、屈折率、薄膜、干渉パターン、多層コーティング、および偏光とどのように相互作用するかを理解します。
製造工程や熱処理工程での品質管理によく使われるガラスの物理的特性を分析します。
透過率、拡散透過率、拡散反射率を測定し、透明度、偏光、色の安定性、耐傷性、耐衝撃性、UVカットなどを評価します。
Featured Resources
FTIR
赤外顕微鏡/イメージング
分光光度計
ハイフネーション
原子吸光分析/サンプル前処理
ICP発光分光分析
ICP質量分析
ガスクロマトグラフ
FTIR
赤外顕微鏡/イメージング
分光光度計
ハイフネーション
原子吸光分析/サンプル前処理
ICP発光分光分析
ICP質量分析
ガスクロマトグラフ
FTIR
アプリケーションノート
テクニカルノート
アプリケーションノート
テクニカルノート
アプリケーションノート
ディスポーザブルATR クリスタルとFTIR によるシーリング材の硬化プロセス及びその特性評価
シーリング材は、製品の気密性や防水性を保つために、対象物の継ぎ目や隙間に施工されるペースト状の材料です。商業・工業用途に幅広く使用されており、極端な温度環境な...
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FTIR による塗料と接着剤の時間分解分析
塗料と接着剤は、用途が異なる工業製品ですが、どちらも一般的に出発材料が液体であり、乾燥や硬化の過程を経て固体の物質となる点で共通しています。全反射(ATR)法に...
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Spectrum 3 赤外分光光度計を用いたガラス・医薬品・工業材料の近~遠赤外全域測定
パーキンエルマーのSpectrum 3 赤外分光光度計は、1 台の機器で近赤外– 中赤外– 遠赤外の3 つの領域を測定できます。ビームスプリッタの自動切替機構を使用することで、...
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高速スキャンFTIRを用いたストップトフロー法による高速化学反応のモニタリング
赤外(IR)分光法は、特定の化学情報を知ることができ、収集されたスペクトル情報に基づいて反応中間体と最終生成物を識別します。パーキンエルマーのSpectrum 3 FTIRな...
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マルチレンジFTIRによる遠赤外領域の全反射(ATR)測定
一般的なFTIR は干渉計のビームスプリッターや検出器などの光学材料にKBr が使用されています。KBr の光学特性上、測定の低波数側の限界は約400 cm
-1
です。一方、近年、...
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シアノアクリレート硬化反応のFTIR時間分解分析
硬化型の接着剤は、電子機器、使い捨て医療機器、さらには航空宇宙部品を含む幅広い製品に広く使用されています。接着剤の硬化に関与する重合反応は、使用するモノマーに...
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光学材料の正確な分析のために求められる装置要件:PerkinElmer 983分散型赤外分光光度計とFrontier Optica FT-IRの比較
光学材料を測定する際に標準的なFT-IR を使用した場合、様々な測定誤差が発生することが報告されています。その測定誤差を克服するためにパーキンエルマーは、Frontier ...
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テクニカルノート
絶対校正技術 AVI- 機器間差を補償し信頼性の高い分析結果を提供する-
このテクニカルノートは、複数の赤外分光光度計を運用する際に問題となる装置の校正方法と、その解決方法としてパーキンエルマーが提案する校正技術について示したもので...
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FTIR の自動大気補正技術(水蒸気、CO
2
の補正技術)
パーキンエルマーのFTIR 用ソフトウェアに標準装備の自動大気補正技術(AVC 技術:Atmospheric Vapor Compensation Technology)は、窒素ガスや乾燥空気を使用せず、光...
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干渉縞を利用したセルやフィルムの厚み分析手法
セルの光路長や薄いフィルムの厚みは、空のセルやフィルムによって作り出される干渉縞を利用して決定することができます。...
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マル法を用いた固体の赤外スペクトル
透過測定に供するサンプルの前処理には、マル(mull)法、アルカリ-ハロゲンディスクを成型する方法、アルカリ-ハロゲンの窓板に薄いフィルムを成形する方法、溶液にする方...
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KBr錠剤法を用いた固体の赤外スペクトル(13mmダイと油圧式プレス)
純粋なサンプルの赤外透過スペクトルを得るには、光路長を非常に短くするかサンプルを希釈することが必要となります。固体サンプルを測定する場合においては、溶剤に溶解...
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キャストフィルム法を用いた固体の赤外スペクトル
固体材料の赤外(IR)透過スペクトルを得るために、多くの前処理手法があります。固体を溶剤に溶かして評価する方法、懸濁液(マル)を調製する方法、アルカリ-ハロゲン粉末...
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定量分析
赤外分光分析は材料の化学構造の情報を得る定性分析として広く活躍しています。この手法はサンプルに含まれる成分濃度を特定する定量的な測定にも用いることができます。...
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透過測定における干渉縞の解析と除去
薄膜の赤外透過測定を行った場合、赤外吸収のみられない領域にも一定間隔の波形が観察されることがあります。この波形は干渉縞(フリンジ)とよばれるもので、サンプル厚み...
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赤外顕微鏡/イメージング
アプリケーションノート
赤外顕微鏡システムによる製造プロセスで発生した異物の分析
製品は必要な部品や成分のみで構成され、それ以外の部品や成分は含まれないように設計されています。しかしながら、最終製品の内部に予期しない汚染物として異物が存在す...
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全自動赤外顕微鏡システムによる車両塗装片の分析
交通事故現場で発見される塗装片から得られる情報は、事故の証拠として非常に重要です。事故の際に微量の塗装片が車両から被害者の衣服表面などに付着することがあります...
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赤外顕微鏡の自動測定を用いた複数領域の迅速な定性分析
赤外顕微鏡測定は最小数 µmまでの微小試料の測定、定性に使用される一般的な分析法です。これらの分析の主な目的は発生元が不明な微量の汚染物や微小の異物を同定するこ...
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赤外顕微システムによる高分子積層材料の分析
多層からなる高分子積層フィルム(ラミネート)は、さまざまな産業分野で使用されています。様々な内容物を適切に保護する目的であるため、多くの場合ラミネートの構成...
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分光光度計
アプリケーションノート
テクニカルノート
アプリケーションノート
テクニカルノート
アプリケーションノート
高性能UV/Vis/NIR分光光度計LAMBDA 1050+による光学薄膜の吸収率(k)と屈折率(n)の測定
光学薄膜は、光の干渉効果を利用し光学素子の透過率や反射率を制御する薄膜です。このアプリケーションノートでは、LAMBDA 1050+を用いて、光学薄膜の吸収率、屈折率...
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スマートフォン 赤外線センサーの透過率測定
スマートフォンの使用は劇的に増加していますが、多くのユーザーはデバイスで使用されている赤外線センサーに気づいていません。赤外線センサーは、多くあるバイオセンサ...
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LAMBDA 1050+ UV/Vis/NIR分光計とユニバーサル反射アクセサリによるESRフイルムの分析
Enhanced Specular Reflector (ESR) フイルムは、1960 年代後半に開発されました。ESR フイルムは、反射時の損失が小さいことから、液晶ディスプレイの輝度の向上に利用...
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紫外可視近赤外分光光度計とUV WinLabソフトウェアを使用した塗装パネルの太陽光の全反射率測定
塗料メーカーでは自社製品の反射率測定を実施しています。この測定において、可視領域における色および近赤外領域における特性評価が重要です。特に、最も重要な特性は反...
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LAMBDA 850/950/1050紫外可視近赤外分光光度計による高吸光度材料の測定
光学材料研究の分野では、レーザー保護レンズ、光学フィルター、偏光材料などの透過率の低い、すなわち吸光度の高いサンプルを扱います。これらのサンプルは、しばしば紫...
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テクニカルノート
光拡散性ガラスの透過率・反射率測定
高効率太陽電池、建築材や自動車関連の開発と製造を行うメーカーや、品質を確認する試験研究所にとって、光拡散ガラスの透過率や反射率などの分光特性を正確に測定する...
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任意の入射角度における固体試料の透過率と絶対反射率の自動測定
LANBDA 950/1050 専用アクセサリとして、角度可変自動測定アクセサリARTA を販売しておりましたが、このアクセサリの柔軟性と拡張性に対する要求が高まりTAMS を開発...
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270mm積分球アクセサリ(UL270; LAMBDA 950, 1050紫外可視近赤外分光光度計専用アクセサリ)
パーキンエルマー UL270積分球は、光を拡散する材料の測定において今までにない精度を約束するユニークなアクセサリです。このアクセサリはパーキンエルマーLAMBDA...
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太陽光発電における各種材料の反射率測定 UV/Vis/NIR測定用アクセサリの適切な選択
最近の太陽エネルギ産業において、最も一般的な分析法の一つに材料表面の反射率の定量化があります。窓材自体に様々な材料が用いられ、さらに材料表面の金属コーティング...
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積分球の応用と用途:LAMBDA 650・850 UV/VisおよびLAMBDA 950 UV/Vis/NIR分光光度計との併用
積分球は紫外・可視および紫外・可視・近赤外分光光度計と併用すると、極めて多用途なアクセサリとして、ほとんどの固体・液体に対する高精度な透過光・反射光・散乱光...
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LAMBDA 950/850/650 UV/Vis/NIR・UV/Vis分光光度計のための角度可変絶対反射アクセサリー
幅広い入射角とUVからNIRまでの広い波長領域を網羅した精度の高い反射測定法には、システムデザインと多様性のある光学部品の開発が必要不可欠です。このような測定法の...
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ハイフネーション
アプリケーションノート
ハイフェネーテッド複合熱分析による高分子材料の特性解析
熱分析は高分子材料の特性解析に非常に重要です。一般に、熱分析をはじめとする機器分析では、個々の物理量として単独の装置で測定することが多く、最近では、同時に熱分...
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原子吸光分析/サンプル前処理
アプリケーションノート
テクニカルノート
アプリケーションノート
テクニカルノート
アプリケーションノート
グラファイトファーネス原子吸光分析法による超高純度試薬およびフォトレジスト剥離液中の超微量分析
半導体産業では、非常に複雑な試料マトリックスや腐食性の高い酸の分析において、サブppb 領域のような超微量の金属を定量できる分析技術が求められています。これらの要...
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Multiwave 3000を使ったAl
2
O
3
とZrO
2
の同時分解検討
ICP質量分析法やICP発光分光分析法、原子吸光分析法などで分析されるサンプルは、主に溶液として装置に導入されます。そのため、固体サンプルは測定前に溶液化する必要...
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Multiwave 3000マイクロウェーブ試料前処理装置を用いた酵素燃焼システム
マイクロウェーブを用いた試料前処理技術はこれまでにも利用されてきましたが、その大半は酸を用いて固体試料を溶液化するアプリケーションに限定されていました。分子の...
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Multiwave 3000マイクロウェーブ試料前処理装置によるポリエチレン標準試料の分解-正確な測定・迅速な処理・汚染管理-
マイクロウェーブを利用した試料前処理法は近年ではRoHSやWEEEへの対応として、固体試料を迅速に前処理できる方法としても注目されています。本法は密閉容器を使用す...
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マイクロウエーブ試料分解装置”Multiwave”によるポリマーの分解処理
分析対象となるサンプルの形態は、気体、液体、固体と多種多様に富んでいます。このようなサンプル中の分析において、分析対象物を損なうことなく分析装置に導入し、サン...
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マイクロウエーブ分解/水素化物発生法による水銀の分析(水銀の前処理/フロー分析)
フロー分析法を併用した手法は試料処理能力に富み、バッチ法で行った手法と比較すると、試薬の消費量を非常に少なくすることができます。また、試料の前処理法として多用...
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テクニカルノート
フローインジェクションシステムFIAS-100/400の概要と水素化物発生法による各元素の分析条件について
フローインジェクション-水銀/水素化物発生元素分析システム(FI-MHS)について、特長と分析作業に関連する項目をご紹介します。...
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MHS-15 水銀/水素化物発生システム
MHS-15(水銀/水素化物発生システム)は、As、Se、Sb、Te、Bi、Snのような水素化物を形成する元素やHgを、原子吸光分析法において高感度に測定するためのアクセサリ...
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HGAグラファイトファーネス
化学修飾剤を使用してデータの信頼性・作業効率向上をはかる
ファーネス分析における化学修飾剤の使用は、試料中に含まれる共存物質の妨害を最小限に抑えることが可能となります。微量金属の定量を行う際には、重要な手法とされてい...
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THGAグラファイトファーネス
化学修飾剤を使用してデータの信頼性・作業効率向上をはかる
ファーネス分析における化学修飾剤の使用は、試料中に含まれる共存物質の妨害を最小限に抑えることが可能となります。微量金属の定量を行う際には、重要な手法とされてい...
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HGA 900 Graphite Furnace
HGA 900 は、AAnalyst 200 もしくはAAnalyst 400 で使用できるグラファイトファーネスシステムです。...
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マイクロウェーブ試料分解システム”Multiwave”の特長について
Multiwaveの原理、特長から、分解後のICP発光分光分析法によるアプリケーション例なども含め、分析値に対する正確さなどについてもご紹介します。...
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ICP発光分光分析
アプリケーションノート
テクニカルノート
アプリケーションノート
テクニカルノート
アプリケーションノート
Avio 550 Max ICP-OES によるエタノール中のリン、硫黄、銅、鉄の直接分析
エタノールは、ガソリンで一般的に使用される燃料の重要な混合成分です。燃料の最終的な用途に応じて、エタノール濃度は<10% から85% まで変化します。広く使用されてい...
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Avio 220 Max ICP-OES による銅-金鉱石の分析
鉱山プラントで鉱石から金属を抽出するには、様々なサンプルのルーチン分析が必要です。銅- 金鉱山の場合、分析が必要な金属には、銅 (Cu) と金 (Au) だけでなく、含有...
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Avio 550 Max ICP-OES によるジルコンの多元素同時分析
ジルコン(ZrSiO
4
、ジルコニウム―ケイ酸塩鉱物)は、さまざまな工業製品に使用される天然鉱物であり、最も一般的なのは耐火物、セラミック、ほうろう鉄器などです。新素...
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Avio 560 Max ICP-OES による地球化学サンプルのハイスループット分析
地球化学材料の元素組成は、地質調査、鉱物資源の開発、環境保護において重要な役割を果たすため、岩石、土壌、堆積物、植物などの天然サンプルの元素分析は、地球化学...
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減衰モードを使用したAvio 220 Max ICP-OES によるめっき浴溶液の分析
めっき浴の分析には、微粒子の存在や、日間で様々な元素グループを監視する必要性、高濃度を正確に測定する必要性など、いくつかの課題があります。通常、フレーム原子吸...
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Avio 550 Max ICP-OES を用いたメタホウ酸リチウム融解サンプルの測定安定性評価
地質学的材料の分析は、そのマトリックス成分と、サンプルを溶液化するために必要な前処理作業に課題があります。サンプル前処理方法は、目的とするサンプルや元素によっ...
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HydraMistサンプル導入システム(水素化物発生法+噴霧導入法)を用いたICP-OESによる飲料水分析
人は主に水そのものや、水で調理された食品、飲料水を摂取することによって、ヒ素(As)に曝露されます。ヒ素は毒性があるため、世界保健機関(WHO)は飲料水に10 µg/...
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テクニカルノート
ICP 分析のための強力な半定量ツール “SmartQuant”
まったく未知のサンプルを分析した場合、その元素組成を正確に評価することは困難な場合があります。ターゲットとした分析元素に対し、最適な波長や必要な検量線の濃度範...
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Universal Data Acquisition in Syngistix Software for Avio 550/560 Max ICP-OES
ICP 発光分光分析法(ICP-OES)は、その卓越した高速分析性能や感度、あるいは広いダイナミックレンジなどから、多元素分析に利用されてきました。半導体検出器の導入...
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The Avio 220 Max ICP-OES:革新的なダブルモノクロメーター 分光器システム
パーキンエルマーの Avio 220 Max ICP-OES は、ダブルモノクロメーター分光器システムと、このユニークなハイブリッド同時 ICP-OES ソリューションの一部であるその他の...
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ICP-OESにおける分光干渉対策としてのマルチコンポーネントスペクトルフィッティング(MSF法)
バックグランド補正法と元素間補正法(Interfering element correction:IEC)は、ICP 発光分光分析法に利用され、プラズマや、マトリックス、分析対象以外の元素からの寄与に...
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PerkinElmer Avioシリーズ デュアルビュー ICP発光分光分析装置
パーキンエルマーの Avio ICP-OES シリーズは、縦型配置トーチのプラズマをソフトウェア制御のもと、完璧なデュアルビュー(測光による)測定ができます。一度の測定メソ...
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ICP-OES全元素同時測定機能UDAについて
歴史的にICP 発光分光分析法 (ICP-OES) は、その卓越した高速分析性能や感度、あるいは広いダイナミックレンジなどから、多元素分析に利用されてきました。初期のICP-OE...
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ICP質量分析
アプリケーションノート
テクニカルノート
アプリケーションノート
テクニカルノート
アプリケーションノート
NexION 5000 ICP-MS を用いた高純度酸化イッテルビウム中の希土類不純物の直接定量法
希土類元素(REEs)は、工業用品や家電製品など、多くの先端技術を支える材料として欠かせない重要な存在です。REEs の特性と価格はその純度に依存するため、高純度の...
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NexION 5000 ICP-MS を用いた高純度酸化ネオジム中の希土類不純物の直接定量法
希土類元素(REEs)の純度はその効果と価格を左右するため、超高純度の希土類酸化物を製造することが非常に重要となっています。酸化ネオジム(Nd
2
O
3
)はREEs の一つ...
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NexION 5000 SP-ICP-MS による半導体産業用薬液中の金属ナノ粒子の分析
半導体製品における金属汚染はデバイスの性能に悪影響を及ぼし、製造プロセスの歩留まりにも影響を与えます。ウェーハの歩留まりと性能を高めるという要件を満たすために...
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prep
FAST
SおよびNexION 5000 ICP-MSを用いた半導体グレードふっ化水素酸の自動分析
半導体産業においてふっ化水素酸は、半導体の機能に影響を与える微量金属、微粒子、有機汚染物質からの汚染を低減するために、シリコンウェーハの洗浄工程で広く利用さ...
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prep
FAST
S およびNexION 5000 ICP-MS を用いた半導体グレード硝酸の自動分析
半導体産業において硝酸は、半導体の機能に影響を与える微量金属、微粒子、有機汚染物質からの汚染を低減するために、シリコンウェーハの洗浄工程で広く利用されています...
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NexION 5000 ICP-MS を用いた高純度シリコンマトリックス中の微量不純物分析
20 世紀後半から21 世紀初頭、シリコンが世界経済に与えた影響は大きく、シリコン時代と呼ばれていました。半導体電子機器で使用する高純度精製シリコンは、多くの分野で...
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NexION シングルパーティクルICP-MS を用いたNIST 金ナノ粒子標準物質の分析
工業用途のナノ材料(Engineered Nanomaterials: ENs)とは、元素等を原材料として製造された固体材料を指し、その粒子の大きさを示す三次元のうち少なくとも一つの次...
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NexION 5000 ICP-MS による高純度酸化ガドリニウム中の希土類不純物の直接分析
ガドリニウム(Gd)は、磁性化合物の製造に使用されています。代表的なものにMg-Gd 合金があり、耐食性に優れていることから、高強度・軽量化を必要とするさまざま...
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NexION 2000 ICP-MS を用いたリチウム材料中の不純物測定
環境への関心が高まる中、大容量で長寿命、そしてリサイクルが可能なリチウム電池を搭載した機器が増えています。すべての製品と同様、リチウム電池においても安全性と性...
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NexION 5000 ICP-MS を用いたリチウム材料中の不純物測定
リチウム(Li)は日常生活の中で重要な役割を担っており、現代の生活におけるほぼすべての場面において、私たちの身の回りに存在しています。リチウムの一般的な用途の...
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SP-ICP-MS 法による鉄ナノ粒子の分析:ユニバーサルセルテクノロジーによる多原子イオン干渉への対応
ナノ粒子への関心の高まりから、ナノ粒子の検出・測定を行う様々な手法が使用されていますが、金属ナノ粒子を測定する手法として期待されているのが SP-ICP-MS 法です。...
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リアクションモードシングルパーティクルICP-MS 法を用いた半導体産業用有機溶剤中の鉄ナノ粒子分析
半導体製品における金属汚染はデバイスの性能に大きな悪影響を及ぼします。遷移金属は半導体材料を通して拡散しやすく、様々な酸化物の形状として表面に凝集する傾向が見...
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NexION 5000 ICP-MS を用いた高純度酸化セリウム中の希土類不純物の直接定量法(中国標準規格 GB/T 18115.2-2020 に準拠)
希土類元素(REEs)は、原子番号57 ~ 71 のランタノイド系元素に、スカンジウムおよびイットリウムを加えた17 元素の総称です。REEs の用途は主に、蛍光体、発光粉末、...
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NexION 2000 を用いたレーザーアブレーション‐ICP-MSによる希土類元素の分析
再生可能エネルギーや蓄電池の飛躍的な進歩、医療や材料科学の改善に至るまで、この30 年でより効率的かつ高度な電子機器への要求が高まり、現代のテクノロジーは急速に...
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自動標準添加装置(ASAS)-ICP-MS を用いた半導体グレード薬品の分析
半導体製造工程では様々な薬品が使用され、これらの薬品に要求される金属不純物の濃度は、ますます低くなっています。誘導結合プラズマ質量分析法(ICP-MS)は、様々な...
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ガス交換装置(GED)ICP-MSを使用した塩化水素ガス中の金属不純物の直接分析
現在の生活環境において、半導体はあらゆる電気を使用する機器に使用され、欠かせないデバイスになっています。そして、集積度が高くエネルギー消費を抑えた上で、より高...
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LA-ICP-DRC-MS 法による金属材料中の不純物分析
このアプリケーションノートでは、LA-ICP-DRC-MS法により、金属アルミニウム中の不純物(Pb)分析を行った事例を報告します。レーザーによる試料アブレーション量の変...
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全自動VPD-ICP-MS を使用したシリコンウェーハ中金属不純物測定
シリコンは最もよく使用されている半導体材料で、コンピューターやスマートフォンなどの日常的に使用されている電子機器から、高効率のソーラーセルなどの省エネルギーア...
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種々のセルガスを用いたNexION 5000 ICP-MS による希硫酸中の非金属元素の極微量分析
半導体の製造がマイクロレベルで行われるにつれて、ICP-MSによる非金属元素の極微量分析への需要が高まっています。ICP-MSの中でもコリジョンリアクションセルの前に...
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NexION 5000 ICP-MS による電子工業用グレード塩酸中の不純物分析
半導体デバイスの製造時には、シリコンウェーハに汚染物質や不純物がないことを確認することが重要です。洗浄プロセスに使用する高純度の化学薬品が、半導体製品全体の...
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NexION 5000 ICP-MS による半導体用グレード過酸化水素水の分析
半導体の製造プロセスでは化学製品が使用されており、それらに含まれる汚染物質は、製品の歩留まりとデバイスの信頼性に直接影響します。集積回路(IC)製造において、ウ...
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NexION 5000 ICP-MS を使用したIC 製造向け有機溶媒中の金属不純物分析
半導体産業で一般的に使用されている有機溶媒には、2- プロパノール (IPA)、2- アセトキシ-1- メトキシプロパン (PGMEA)、1- メトキシ-2- プロパノール (PGME)、N- メチル-2-...
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NexION 5000 ICP-MS による希硝酸中の非金属元素の超微量分析
硝酸(HNO
3
)は、半導体産業や電子工業産業のあらゆる工程で幅広く使用され、使用される分野や意図した用途において、さまざまな純度グレードが求められています。その...
資料請求
高純度硫酸中の超微量元素分析
電子機器の製造手順の中には、超高純度の化学薬品の使用を必要とする複雑なプロセスがあります。高純度グレードの硫酸(H
2
SO
4
)は一般的に、部材の洗浄やシリコンウェハ...
資料請求
NexION 5000 ICP-MSにおける超純水の分析
半導体産業はより速く、より小さく、より消費電力が少ない革新的なデバイスの開発を継続的に行ってきました。より改良された製品を開発し続けるためには、重要な機構を...
資料請求
DRCモード SP-ICP-MS法によるSiO
2
ナノ粒子の分析
ナノテクノロジーの発展と多くの製品や工程へのナノ粒子使用の増大により、ナノ粒子の特性評価の必要性が増しています。様々な組成のナノ粒子が製造・利用されていますが...
資料請求
NexION 2000 ICP-MSを用いた10 nm金ナノ粒子の粒径と粒子濃度の精確な測定
ナノマテリアルの急速な開発および多様な消費財への展開により、サイズや組成が様々なナノ粒子(NP)の特性評価を迅速かつ精確に実施する必要性が生じています。金属ナ...
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NexION 2000 ICP-MSにおける工業用ガスおよび半導体用特殊材料ガス中不純物の直接分析
工業用ガスとしては種々のガスが鉄鋼、自動車、エレクトロニクスなど様々な用途で使用されています。半導体用特殊材料ガスは半導体や液晶の製造工程の、ガス製膜・エッチ...
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SP-ICP-MS法による各種水試料における金-銀コアシェルナノ粒子の変化に関する検討
工業ナノ粒子(ENP)は工業プロセスおよび一般消費財の両方に用いられており、その用途のために特性や特徴はよく制御されています。環境システムの複雑さとENP の個々に...
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標準モードSP-ICP-MS法によるSiO
2
ナノ粒子の分析
ナノテクノロジーの発展と製品や工程へのナノ粒子使用の増大により、ナノ粒子の特性評価の必要性が増しています。ナノ粒子は広く様々な化合物に利用されていますが、二酸...
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シングルパーティクルICP-MS法における飲料水中の銀・金・二酸化チタンナノ粒子の迅速分析
産業プロセスや一般消費財におけるナノ粒子(NPs)の使用が増加しています。そのため、産業廃棄物や一般消費財の廃棄により、ナノ粒子の環境への放出が懸念されています...
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シングルパーティクルICP-MS法における日焼け防止剤中の二酸化チタンナノ粒子分析
二酸化チタン (TiO
2
) ナノ粒子は、有害な紫外線を遮断する成分として日焼け防止剤に含まれていることが一般的です。一般消費財へのナノ粒子 (NPs) の使用が増加しているこ...
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SP-ICP-MSによるダイエットサプリメント中の銀ナノ粒子の特性評価
ナノ粒子は、1~100nmの粒子のことを指し、小さな粒子サイズで大きな比表面積を有するため、バルク材料とは異なる化学的・物理的な特長を有します。ナノ粒子は、多数の...
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化学機械研磨剤として使用される酸化物ナノ粒子スラリーのSP-ICP-MS法による特性評価
本報では、半導体表面の化学機械研磨(CMP)剤としてナノエレクトロニクスや半導体製造産業で一般的に用いられている酸化物ナノ粒子(Al
2
O
3
やCeO
2
)の定量とその特...
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SP-ICP-MSによる表層水中の銀ナノ粒子の挙動評価
工業用ナノ材料(Engineered Nanomaterials : ENMs)の生産と使用は、劇的に増加し、環境中へ放出された際の潜在的なリスクが懸念されています。そのため、ENMsの...
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テクニカルノート
レーザーアブレーションイメージングに用いる四重極 ICP-MS の安定化時間を短縮する利点
レーザーアブレーションー誘導結合プラズマ質量分析法(LAICP-MS)は、空間的に分解した元素情報を低濃度でも得ることができるため、イメージングツールとして人気が増...
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ICP-MS における干渉:まだ干渉が心配ですか?
1983 年にICP 質量分析計(ICP-MS)が登場したとき、分析者たちの間では、この新しい技術によって干渉の心配がなくなった、と考えられていました。それから何年も過...
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NexION ICP-MS用高マトリックス対応サンプル導入システム All Matrix Solution (AMS)
NexIONシリーズICP-MS はこの伝統を継承しており、ユニークなトリプルコーンインターフェイスと四重極イオンディフレクタの組み合わせにより、高マトリックスサンプルに...
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シングルパーティクルICP質量分析法(SP-ICP-MS法)の原理を理解する
ナノテクノロジーは急速に発展している新たな技術であり、その可能性は科学者や技術者に多くの課題をもたらしています。ナノ粒子は、多くの材料や製品に利用されており、...
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ナノ粒子分析 "SP-ICP-MS"専用Syngistixナノアプリケーションモジュール
Syngistix ナノアプリケーションモジュールは、シングルパーティクル(SP)-ICPMS分析専用として開発されたはじめてのプログラムです。このモジュールは、パーキンエル...
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ガスクロマトグラフ
アプリケーションノート
電気・電子材料中有害物質の分析 -WEEE、RoHSに対応した分析-
欧州官報としてWEEEおよびRoHSに関するDirective(指令)が2003年2月13日に発効され、2006年7月1日以降,鉛,水銀,カドミウム,六価クロム,ポリ臭素化ビフ...
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無機分析
カテゴリを参照
原子吸光分析
ICP発光分光分析
ICP質量分析
サンプル前処理システム
クロマトグラフィー
カテゴリを参照
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