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標準モードSP-ICP-MS法によるSiO2ナノ粒子の分析
ナノテクノロジーの発展と製品や工程へのナノ粒子使用の増大により、ナノ粒子の特性評価の必要性が増しています。ナノ粒子は広く様々な化合物に利用されていますが、二酸化ケイ素 (SiO2) ナノ粒子は様々な用途に利用されています。製品への導入および組み込みを成功させるためには、SiO2粒子のサイズとサイズ分布を明らかにすることが必要です。
シングルパーティクルICP-MS (SP-ICP-MS) 法では、ナノ粒子を迅速に測定することができ、粒子1つ1つを測定することで粒子サイズやサイズ分布、粒子濃度、溶存成分濃度、粒子の凝集などの情報を得ることができます。本報では、SiO2ナノ粒子の検出、測定、特性評価における SP-ICP-MS の能力について検証しました。
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