Application Note Download高性能UV/Vis/NIR分光光度計LAMBDA 1050+による光学薄膜の吸収率(k)と屈折率(n)の測定

高性能UV/Vis/NIR分光光度計LAMBDA 1050+による光学薄膜の吸収率(k)と屈折率(n)の測定
光学薄膜は、光の干渉効果を利用し光学素子の透過率や反射率を制御する薄膜です。
このアプリケーションノートでは、LAMBDA 1050+を用いて、光学薄膜の吸収率、屈折率、膜厚を測定する方法を紹介します。分光データから薄膜の光学定数を計算するための手順に加え、複素屈折率の物理的意味についても説明します。この方法により、光学薄膜の研究開発で有用な情報をより簡単に得ることができます。
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