Application Brief RequestSP-ICP-MS 法による鉄ナノ粒子の分析：ユニバーサルセルテクノロジーによる多原子イオン干渉への対応

ナノ粒子への関心の高まりから、ナノ粒子の検出・測定を行う様々な手法が使用されていますが、金属ナノ粒子を測定する手法として期待されているのが SP-ICP-MS 法です。感度および柔軟性の高さ・分析速度の速さから、ICP-MS はナノ粒子の検出・測定に理想的な手法であり、ナノ粒子の無機元素組成・濃度・サイズ・サイズ分布・凝集などの特性評価に用いることができます。
ナノテクノロジーの利用領域が拡大するにつれ、ナノ粒子分析のニーズは高まっており、特に多原子イオン干渉の影響を受ける元素（例えば、チタン・鉄・シリコン）を含むナノ粒子の測定需要が高まっています。一つの例としては、ゼロ価鉄（ZVI）ナノ粒子は特殊な化学特性と大きな比表面積を持ち、バルクの鉄に比べて効果が高いことから、環境修復プロジェクトに広く使用されています。ゼロ価鉄粒子をモニターするためには鉄を測定する必要がありますが、ICP-MS を用いる場合、鉄は多原子イオン干渉（特にArO⁺）の影響を受けるため、対策が必要です。鉄に干渉する多原子イオンの除去に最も効果的なのは、アンモニアガスを用いたリアクション法です。
今までに最も多く発表されている SP-ICP-MS に関する文献においては、多原子イオン干渉の影響を受けない金属ナノ粒子が注目されており、リアクション（DRC）モード SP-ICP-MS 法は使用されていませんでした。本報では、NexION のユニバーサルセルテクノロジーを用いた DRC モード SP-ICP-MS 測定における能力を検証しました。