Application Note Download赤外顕微鏡システムによる製造プロセスで発生した異物の分析

製品は必要な部品や成分のみで構成され、それ以外の部品や成分は含まれないように設計されています。しかしながら、最終製品の内部に予期しない汚染物として異物が存在することもあります。異物は製品の品質に悪影響を及ぼすことや、故障の原因にもなります。そのため、異物を同定して、その発生元を特定するための検査が必要となります。赤外（IR）分光法は物質の同定を得意とした分析手法です。
このアプリケーションノートでは、全自動赤外顕微鏡システムである Spotlight 200i を用いて、さまざまな製品に含まれる異物の分析について説明します。