技術資料ライブラリー

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製品群 種類 タイトル
GC用前処理装置
Application Note Download ヘッドスペース法による高分子・工業材料中の揮発性成分の分析 -MHE法と標準添加法-
赤外顕微鏡・イメージング
Application Note Download 高速IRイメージング技術-高分子材料への展開-
赤外顕微鏡・イメージング
Application Note Download IRイメージングによるナイロン-ETFE多層チューブにおける接着層成分の拡散
赤外顕微鏡・イメージング
Application Note Download IRイメージングによるプラスチックフィルムの高次構造解析
赤外顕微鏡・イメージング
Application Note Download IRイメージングによる生化学分野への応用と展開-化学情報からのがん細胞の分布(2)-
熱分析
Technical Note Download DSCにおけるサンプリングの諸注意事項について
分光光度計
Technical Note Download LAMBDA 950/850/650 UV/Vis/NIR・UV/Vis分光光度計のための角度可変絶対反射アクセサリー:Universal Reflectance Accessory(URA)
GC用前処理装置
Application Note Download 熱脱着法における捕集チューブとトラップ剤の選択
GC用前処理装置
Application Note Download 半導体関連のアウトガス分析に用いる加熱脱着法とそのノウハウ
ガスクロマトグラフ
Application Note Download 家電用プラスチック中の臭素系難燃剤の分析
サンプル前処理システム
Application Note Download Multiwave 3000マイクロウェーブ試料前処理装置によるポリエチレン標準試料の分解-正確な測定・迅速な処理・汚染管理-
赤外顕微鏡・イメージング
Application Note Download IRイメージングによる作物組織構造の可視化技術
GC用前処理装置
Application Note Download 土壌汚染分析における熱脱着法、ヘッドスペース法
GC用前処理装置
Application Note Download 室内空気汚染物質の測定法 固相吸着-加熱脱着-GC/MS法(チューブ法)
GC用前処理装置
Application Note Download ヘッドスペース分析における定量-標準添加法-
ガスクロマトグラフ
Application Note Download 電気・電子材料中有害物質の分析 -WEEE、RoHSに対応した分析-
赤外顕微鏡・イメージング
Application Note Download Spectrum Spotlight 350による錠剤のNIRイメージング
赤外顕微鏡・イメージング
Application Note Download ヒト腹部動脈のIRイメージング
サンプル前処理システム
Application Note Download マイクロウエーブ試料分解装置”Multiwave”によるポリマーの分解処理
赤外顕微鏡・イメージング
Application Note Download Spectrum Spotlight 300による動脈のプラーク形成の分析
赤外顕微鏡・イメージング
Application Note Download Spectrum Spotlight 300による直径10ミクロンファイバー上に付着した接着剤のIRイメージング
フローインジェクション/水銀分析装置
Application Note Download マイクロウエーブ分解/水素化物発生法による水銀の分析(水銀の前処理/フロー分析)
熱分析
Application Note Download TG、DSCによる硫酸銅5水和物単結晶の脱水挙動
熱分析
Application Note Download 高分子系材料の熱分析
FTIR
Application Note Download 1回反射ATRアクセサリーを使用したFT-IR分光法によるスチレン-ブタジエンゴムのミクロ構造分析
GC用前処理装置
Application Note Download シックハウス(室内空気汚染)問題に関わるガイドラインと対象物質の分析法について
サンプル前処理システム
Technical Note Download マイクロウェーブ試料分解システム”Multiwave”の特長について
ICP質量分析NexION 5000
Application Note Request Analysis of Blood Using NexION 5000 ICP-MS
ICP質量分析NexION 5000
Application Note Request Direct Trace-Element Analysis in Cell Culture Media and Raw Materials with the NexION 5000 ICP-MS