Technical Brief RequestNexION ICP-MSシリーズ ユニバーサルセルテクノロジー－ 次世代の分析へ

NexION ICP-MSシリーズに搭載された第3世代ユニバーサルセルテクノロジー（UCT）を用いることで、多原子イオン干渉や同重体イオン干渉を柔軟かつ高度に除去し、複雑なマトリックス試料でも信頼性の高い分析が可能になります。

• 特許取得済みのユニバーサルセルとHe/H混合ガスにより、ガス流量の制御範囲を拡張し、干渉除去性能を向上
• 低質量カットオフ（RPq）や信号制御による希釈（RPa）でバンドパスフィルタリングを実現し、二次反応生成物も除去
• アキシャルフィールドテクノロジー（AFT）により反応速度を制御し、検出下限の低減と分析速度の改善を両立
• 高安定性を備えた新設計の電源により、UCTモードでの安定時間を大幅に短縮し、レーザーアブレーションなど短滞在時間アプリケーションにも対応
• Syngistixソフトウェアとの連携によるガスモードの先行処理機能で、複数リアクションガスの切り替え時間を短縮しスループットを向上

複雑なマトリックスが存在する試料のICP-MS分析では、多原子イオン干渉や同重体干渉によって不正確で信頼性の低い結果が生じやすいという課題があり、その解決策として本技術が求められています。各サブシステムの最適化データや検量線・BEC評価結果など、具体的な検証データは資料に詳しく掲載されていますので、ぜひ資料をご請求ください。