Technical Note RequestNexION ICP-MSにおける半定量分析

NexION ICP-MSにおける半定量分析

未知試料に含まれる元素をあらかじめ絞り込めず、検量線作成に時間がかかってお困りではありませんか?

  • 検量線作成なしで、1 試料あたり 1〜2 分で 70〜80 元素の概略濃度を把握可能
  • 全質量スペクトルを経験則ベースのアルゴリズムで自動解析し、多原子イオン・二価イオン干渉にも対応
  • コリジョンモード(KED)やマルチ四重極技術との組み合わせで分析精度をさらに向上
  • 希釈要否や内標準元素の選定など、本分析前のスクリーニングツールとしても活用可能
  • フィンガープリンティングや定量分析と同時実行できるサーベイスキャンにも対応

NIST 標準物質や CRM を用いた精度検証データ、フィンガープリンティング・不良解析の応用事例など、詳細は資料にてご確認いただけます。ぜひ資料をご請求ください。

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