NexION 2200 ICP質量分析装置

四重極イオンディフレクター(Q0)、四重極ユニバーサルセル(Q1)、およびトランスミッションアナライザー四重極(Q2)を備えた独自の設計により、従来のシングルICP-MS を超える優れた干渉除去と検出下限を実現

  • トリプルコーンインターフェース(TCI)+ OmniRing(NexION 2200)
    OmniRing テクノロジーを搭載したNexION 2200 の第2 世代のトリプルコーンインターフェースは、エクストラクション、フォーカシング、コールドプラズマモードで動作し、卓越した感度を実現します。
  • 優れた干渉除去と検出下限を実現
    第2 世代の四重極Universal Cell Technology により干渉を簡単かつ確実に除去します。
    3 種類(STD、KED、DRC)の測定モードにより、優れた柔軟性と性能を提供します。
  • 革新的なフリーランニングRF ジェネレーターを採用
    冷却不要、メンテナンス不要の革新的なLumiCoil テクノロジーを搭載。マトリックス耐性は一段と向上し、優れたプラズマ出力と安定性を実現します。
  • LCD タッチスクリーン搭載
    ハードウェア制御、結果レビュー、機器パラメータ診断、トレーニング ビデオへのアクセスなど、日常的なタスクを実行できます。
  • マトリックスに影響を受けない高い柔軟性
    NexION 独自のAll Matrix Solution(AMS)サンプル導入システムにより、高濃度マトリックスを含むサンプルでも希釈せずに分析できます。

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出展社セミナー

日時 タイトル・要旨 会場
9月4日(金)11:15 - 11:45

ICP質量分析法における自動希釈装置はどこまで我々を助けてくれるのか?~検量線の自動作成とサンプルの自動希釈の最前線

正しい結果を得るためには正しく検量線用標準液を調整し、正しくサンプルを希釈する必要があります。この作業は最も個人差が出やすい部分であるが、自動化することによって、どのような効果が得られるかを紹介します。

TKP(旧アパ)会場No.7

技術資料(アプリケーション別)

半導体プロセス薬液の分析

NexION 2200 ICP-MSによる半導体用グレード有機溶媒の分析

半導体製造に用いるフォトレジスト剥離剤NMP中の超微量金属分析事例をご紹介。NexION 2200 ICP-MSにより、有機溶媒特有の課題(揮発性、炭素堆積、マトリックス干渉)を克服し、SEMI規格が求めるpptレベルの高精度分析を実現します。

半導体 #感度・検出精度 #干渉・マトリックス対応

NexION 2200 ICP-MSによる半導体用グレード塩酸の分析

半導体洗浄液(RCA洗浄)に用いる超高純度塩酸中の元素不純物分析事例をご紹介。NexION 2200 ICP-MSにより、塩化物由来のスペクトル干渉を効果的に除去し、SEMI規格が求める極めて低いレベルでの直接分析を実現します。

半導体 #感度・検出精度 #干渉・マトリックス対応

石油・エネルギー分析

NexION 2200 ICP-MSを用いた石油製品中のSi、P、S、As、Hg分析

石油製品中の分析が難しい5元素(Si、P、S、As、Hg)の分析事例をご紹介。NexION 2200 ICP-MSにより、揮発性サンプル特有の課題やスペクトル干渉を克服し、NIST認証物質でも良好な回収率を実証した高精度分析をご覧いただけます。

半導体 #感度・検出精度 #干渉・マトリックス対応

NexION 2200 ICP-MS を用いたASTM 規格D8110-17 に準拠した石油製品の分析

ASTM規格D8110-17に準拠した石油製品(軽質・中質留分)の微量元素分析事例をご紹介。NexION 2200 ICP-MSにより、揮発性サンプル特有の課題(プラズマ不安定化、炭素蓄積、スペクトル干渉)を解決し、高感度・高信頼性な分析を実現します。

半導体 #干渉・マトリックス対応

環境水質分析

NexION 2200 ICP-MS を用いた沿岸域海水の微量元素分析

高塩分・高濃度マトリックスである沿岸域海水中の微量元素分析事例をご紹介。NexION 2200 ICP-MSとAMS・HTSシステムの組み合わせにより、前処理を最小限に抑えた直接分析を実現し、認証標準物質でも優れた回収率を達成しています。

環境分析 #干渉・マトリックス対応 #前処理・操作性

食品分析

NexION 2200 ICP-MS を用いたプラントベースフード中のミネラルおよび有害元素の分析

急拡大するプラントベースフード市場における、栄養成分・有害元素の分析事例をご紹介。NexION 2200 ICP-MSにより、米国FDA EAM 4.7規格の要求品質を満たす高精度分析を実現し、ラベル表示や安全性評価に必要なデータ取得を支援します。

食品 #感度・検出精度

干渉除去・基礎技術解説

NexION ICP-MSシリーズ ユニバーサルセルテクノロジー- 次世代の分析へ

NexION ICP-MSシリーズに搭載された第3世代ユニバーサルセルテクノロジー(UCT)をご紹介。ガス供給・電源・セルの3サブシステムが連携し、多原子イオンや同重体イオン干渉を高精度に除去。DRC・KEDモードに対応し、検出下限の低減と分析スピードの両立を実現します。

全共通 #感度・検出精度 #干渉・マトリックス対応

 

上記の技術資料をまとめて請求いただけます
※JASIS 2026出展特典(~2026/10/30 17:00まで)

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