Avio 3000 ICP発光分光分析装置

高感度・スピード・安定性 すべてを妥協しない、新世代ICP-OESで、分析を次のステージへ

1回の測定で、必要な元素情報を一括取得

  • 全元素同時測定と柔軟な解析
  • 最高レベルの検出感度と高い波長分離能
  • 自動ピーク合わせ& バックグラウンド補正
  • 高マトリックスにも対応する卓越した測定安定性
  • アルゴン消費量 約50% 削減
  • 待望のチラーレス設計で省スペース・低メンテナンス

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出展社セミナー

日時 タイトル・要旨 会場
9月2日(水)11:15 - 11:45

高マトリックス試料を制するICP-OES分析戦略~干渉対策と安定化の最前線

正しい結果を得るために各種課題に対し、どうアプローチすべきか、実践的な対策を解説します。ノウハウと最新技術により分析フローがどう変わるかを紹介します。

幕張メッセ会議場 101会議室

技術資料

Avio 3000 ICP-OESによる有機溶媒分析をより簡単に

Avio 3000 ICP-OESは、特許取得済みHeliPlateプラズマ技術と自動酸素添加オプションにより、揮発性有機溶媒を冷却スプレーチャンバーなしで安定分析。カーボン付着を抑え、メンテナンス性と長時間安定性を両立した分析手法をご紹介します。

#干渉・マトリックス対応 #安定性・信頼性・再現性

ICP-OESのPlasmaShearテクノロジー:優れた直線性と低メンテナンス性の両立

ICP-OESに搭載されたパーキンエルマー独自技術PlasmaShearをご紹介。プラズマのテールプルームを除去することで、自己吸収による非線形性を解消し、直線ダイナミックレンジの拡大とメンテナンス頻度の低減、アルゴン消費量の削減を実現します。

#感度・検出精度 #ガス・消耗品・コスト #安定性・信頼性・再現性

Avio 3000 ICP-OESの垂直デュアルビュー:より広い測定レンジ、優れたロバスト性、比類のない信頼性

Avio 3000 ICP-OESは、ラジアル測光とアキシャル測光を1つのメソッド内で自在に組み合わせる垂直デュアルビューを搭載。PlasmaShear技術との組み合わせにより、低濃度から高濃度まで広い測定レンジで正確かつ安定した分析を実現します。

#感度・検出精度 #安定性・信頼性・再現性

Avio 3000 ICP-OES光学系:低濃度をより高い信頼性で測定

Avio 3000 ICP-OESに搭載された特許取得済み光学系設計をご紹介。UVコーティングやUV Boostモード、高効率エシェル回折格子、徹底したバッフル設計により、低濃度元素も高い信頼性で正確かつ安定して測定できます。

#感度・検出精度 #安定性・信頼性・再現性

マルチコンポーネントスペクトルフィッティング:高精度なスペクトル補正による分析精度の向上

ICP-OESにおける元素間干渉を高精度に補正する「マルチコンポーネントスペクトルフィッティング(MSF)」をご紹介。分析波長周辺のスペクトル全体を用いた自動補正により、従来法より精度・信頼性を高め、低濃度分析にも対応します。

#感度・検出精度 #干渉・マトリックス対応

Avio 3000 ICP-OESのUV ブースト:低UV領域の分析対象元素の測定を最適化

Avio 3000 ICP-OESに搭載されたUVブーストモードをご紹介。243nm未満の低UV領域でスリットを垂直方向に拡張し感度を向上させることで、ヒ素・鉛・水銀など発光強度の弱い元素も低濃度域で正確に測定できます。

#感度・検出精度

Avio 3000 ICP-OES検出器:次世代技術により速度と精度を向上

Avio 3000 ICP-OESに搭載された革新的なBSI-CMOSセンサー検出器をご紹介。チラー不要でありながら低UV領域の感度と精度を向上させ、167~900nmの全スペクトル範囲を高速かつ高精度に同時測定できます。

#感度・検出精度 #スピード・スループット

Avio 3000 ICP-OESにおけるHeliPlate Plasma Technology:チラー不要で最大化されたプラズマロバストネス

Avio 3000 ICP-OESに搭載された特許取得済みHeliPlate Plasma Technologyをご紹介。空冷式でチラー不要でありながら、あらゆるマトリックスに対応するロバストなプラズマを実現し、メンテナンスコストと環境負荷を低減します。

#ガス・消耗品・コスト #安定性・信頼性・再現性

 

上記の技術資料をまとめて請求いただけます
※JASIS 2026出展特典(~2026/10/30 17:00まで)

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