Spotlight Aurora-I IRイメージングシステム/Spotlight Aurora 赤外顕微鏡システム

すべての分析は見ることから始まる


Spotlight Aurora-I IRイメージングシステム

  • デュアルカメラシステム+3D深度合成
    高解像度カメラと広域カメラを切り替え、対象物を探す時間を削減。可視画像の3D深度合成(世界初)と焦点深度の飛躍的向上により、凹凸のある試料も鮮明に観察できます。
  • 光軸を変更しない安定したポイント測定
    透過・反射・ATRのいずれも光軸を変えずに安定して測定可能。暗視野観察にも対応し、透明樹脂表面の微粒子なども高コントラストで観察できます。
  • Auto-ATRシステム
    ATR測定時の圧力を任意に設定可能(95段階)。14秒の自動コンタクトにより、20µm以下の微小なターゲットも高い再現性で測定できます。
  • 最大3種類の検出器を搭載可能
    LN2冷却MCT/電子冷却MCT/DTGS/InGaAsから、試料や用途に応じて選択できます。
  • 微小粒子や多層膜の自動認識による測定〜解析の自動化
    アパーチャの自動設定とスキャナライズ機能により、複数の観察ポイントをまとめて測定・解析できます。
  • 標準で約20,000件のライブラリを付属
    リアルタイム自動大気補正(AVC、特許)によりパージ不要で良好なスペクトルが得られ、検索結果は日本語表記にも対応しています。
  • アダプティブIRイメージング(世界初)(Spotlight Aurora-I)
    可視画像から関心領域を自動抽出し、複数箇所を無駄なくイメージング測定。深度合成した3次元表面形状に合わせて焦点位置も最適化します。
  • Duet検出器・SynchroScan(特許)(Spotlight Aurora-I)
    ポイント測定とイメージング測定の両方に対応するリニアアレイMCT検出素子と、高速応答・高精度な干渉計制御を実現します。
  • ATRイメージング(Spotlight Aurora-I)
    屈折率4.0のゲルマニウムクリスタルにより、最小1.56µmピクセルサイズでの高空間分解能イメージングが可能です。

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出展社セミナー

日時 タイトル・要旨 会場
9月4日(金)14:15 - 14:45

その粒子、もっと速く・正確に同定できます ー Spotlight Aurora-Iによる次世代IRイメージング

マイクロプラスチック・異物・材料・ラミネート分析など、Spotlight Aurora-Iがもたらす次世代IRイメージングの実力を、具体的な測定事例とワークフローとともに紹介します。

TKP(旧アパ)会場No.1

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Spotlight Aurora/Aurora-I共通の特長と、Aurora-Iで新たに追加された機能の詳細は、カタログでご確認いただけます。

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※JASIS 2026出展特典(~2026/10/30 17:00まで)

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