ICP-MSによる微量元素分析では、多原子イオンやマトリックス由来のスペクトル干渉が分析精度を左右する大きな課題です。従来の干渉除去技術では対応が難しいケースもあり、より複雑なマトリックスや超微量分析への対応が求められています。NexION 5000 ICP-MSは、マルチ四重極技術とユニバーサルセル（UCT）を組み合わせることで、従来のシングル四重極ICP-MSでは困難だった干渉除去を可能にし、分析対象元素を干渉のない質量域へ移動させるマスシフト分析にも対応しています。
本資料では、NexION 5000 ICP-MSに搭載されたマルチ四重極技術とUCTによる干渉除去メカニズムを詳しく解説しています。O2、NH3、CH4を用いたリアクションガスの反応性評価や、Ti、Cr、Ge、As、Mo、Uなどを例としたマスシフト分析事例を通じて、複雑なスペクトル干渉を回避するための実践的なアプローチをご確認いただけます。
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