OnDemand Webinarマルチ四重極ICP-MS “NexION5000” の干渉除去と新たな可能性

40 年の歴史をもつICP 質量分析法は、半導体製造工場で使用される化学物質や、材料に含まれる微量の無機汚染物質の分析に不可欠な手法となっています。NexION 5000 に搭載された4 つの四重極の機能や、この機能を利用した応用例と有用性についてご紹介します。
所要時間：26分14秒　※日本語字幕付き

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