本文へ
パーキンエルマー
  • 資料請求・お問い合わせ
検索
  • What's New
  • Highlights
  • 会社案内
    • 会社案内トップ
    • 会社概要
    • 地図
    • 採用情報
      • 採用情報トップ
      • 採用情報 お問い合わせフォーム
    • プライバシーポリシー
      • プライバシーポリシートップ
      • 個人情報保護方針
      • 個人情報の利用目的
      • 開示等の請求手続き
      • 個人情報保護相談窓口
    • CSR
      • CSRトップ
      • パーキンエルマー震災復興支援プロジェクト
        • パーキンエルマー震災復興支援プロジェクトトップ
        • 福島大学復興支援プロジェクトへの参画
      • Science Tokyo(東京科学大学)TCカレッジ
  • 製品案内
    • 製品案内トップ
    • 分析機器製品一覧
      • 分析機器製品一覧トップ
      • ヘリウムガスの供給不足に関するご提案
      • 赤外分光分析、赤外顕微システム、IRイメージング
        • 赤外分光分析、赤外顕微システム、IRイメージングトップ
        • Spectrum Two FTIR
        • Spectrum Two N FT-NIR
        • Spectrum 3 FTIR/NIR/FIR
        • Spectrum 3 Optica
        • オイル分析専用FTIR
        • Spotlight Aurora
        • Spotlight 400
        • マイクロプラスチックの世界を改めて考える ~FTIRによる測定~
      • 紫外可視・近赤外分光分析
        • 紫外可視・近赤外分光分析トップ
        • ラムダ265/365+/465
        • ラムダ850+/1050+
        • TAMS
      • 原子吸光・ICP発光・ICP-MS分析
      • 原子吸光分析装置
        • 原子吸光分析装置トップ
        • PinAAcle 500
        • PinAAcle 900F
        • PinAAcle 900Z
        • PinAAcle 900T
        • FIMS 100/400
      • ICP発光分光分析装置
        • ICP発光分光分析装置トップ
        • Avio 220 Max
        • Avio 550/560 Max
      • ICP質量分析装置
        • ICP質量分析装置トップ
        • NexION 1100
        • NexION 2200
        • NexION 5000
        • ナノ粒子分析・シングルセル分析
        • SP-ICP-MS/SC-ICP-MS関連技術資料希望フォーム
      • サンプル前処理システム
        • サンプル前処理システムトップ
        • MPS 320
        • SPBシリーズ
        • FIAS 100/400
      • 熱分析
        • 熱分析トップ
        • DSC 9
        • STA 9
        • TGA 9
        • TGA 8000
        • DMA 8000
        • Provectus 6500
      • ハイフネーションテクノロジー
      • ガスクロマトグラフ分析
        • ガスクロマトグラフ分析トップ
        • GC 2400
        • GC/MS 2400 SQ システム
        • HS 2400
        • Clarus 690 GC
        • TurboMatrix Trap 40/110
        • TurboMatrix HS 40/110
        • TurboMatrix 300TD/350・650ATD
      • 液体クロマトグラフ分析
        • 液体クロマトグラフ分析トップ
        • LC300
        • QSight
      • 食品分析
        • 食品分析トップ
        • DA 7250
        • DA 7350 In-line
        • DA 7440 On-line
        • IM 9500
        • IM 9520
        • IM 8800
        • LactoScope
        • AM 5200
        • NetPlus
        • RVA
        • Falling Number
        • Glutomatic 2000 System
        • doughLAB
        • Lab Mill
        • SPD 4200
        • AuroFlow AQ Strip Tests
        • QuickSTAR Horizon Strip Reader
        • MaxSignal ELISA Kit
        • MaxSignal 4302 マイクロプレートリーダー
    • OneSource Laboratory Solutions
  • アプリケーション
    • アプリケーショントップ
    • アドバンスドマテリアル及び化学
      • アドバンスドマテリアル及び化学トップ
      • 高機能材料
        • 高機能材料トップ
        • ガラス&コーティング
        • セラミックス
        • ナノマテリアル
      • 自動車産業
      • 化学&ファインケミカル
        • 化学&ファインケミカルトップ
        • 農薬
      • エネルギー&再生可能エネルギー
        • エネルギー&再生可能エネルギートップ
        • バッテリー
        • 燃料&バイオ燃料
        • 石油化学
        • 太陽電池
      • 潤滑油&冷却水
      • 高分子&プラスチック
        • 高分子&プラスチックトップ
        • 研究開発
        • 原材料や製品の品質管理
        • プラスチックリサイクル
        • マイクロプラスチック分析
          • マイクロプラスチック分析トップ
          • 大気中マイクロプラスチック
        • パッケージ分析
      • 半導体&電子材料
        • 半導体&電子材料トップ
        • 半導体・エレクトロニクス オンデマンド e-ライブラリー
    • 環境分析
      • 環境分析トップ
      • 水質分析
        • 水質分析トップ
        • 飲料水
        • 地表・地下水
        • 廃水
        • ISO17294に準拠した水質分析
        • 海水
      • 大気分析
      • 土壌分析
      • 汚染物質
        • 汚染物質トップ
        • PFAS
      • サステナビリティ
        • サステナビリティトップ
        • 再生可能エネルギー
        • バッテリー
        • 半導体&電子材料
        • 水の再利用
        • 持続可能な農業
        • グリーンケミストリー
        • プラスチックリサイクル
    • 食の安全及び品質検査
    • 医薬品及び生化学
  • サービス・サポート
    • サービス・サポートトップ
    • 製品に関するお知らせ
    • 装置の故障や点検について
    • 消耗品のご購入やお問合せについて
      • 消耗品のご購入やお問合せについてトップ
      • 分析機器消耗品検索フォーム
    • OneSource Laboratory Solutions
      • OneSource Laboratory Solutionsトップ
      • Digital Transformation Services
        • Digital Transformation Servicesトップ
        • Asset Utilization & Optimization
          • Asset Utilization & Optimizationトップ
          • Utilization Solutions
          • Lab Environment and Asset Monitoring
        • Descriptive Analytics & Interactive Dashboards
          • Descriptive Analytics & Interactive Dashboardsトップ
          • Interactive Dashboards
          • Global Benchmarking
          • Mobile & Web Access
        • Asset Location
        • Remote Support
      • Instrument Services
        • Instrument Servicesトップ
        • Asset Optimization​
          • Asset Optimization​トップ
          • Multivendor Services
            • Multivendor Servicesトップ
            • Asset Management Services
        • Relocation Services
      • Lab Workflow Solutions
        • Lab Workflow Solutionsトップ
        • Compliance Services
          • Compliance Servicesトップ
          • Instrument Qualification
            • Instrument Qualificationトップ
            • IQ/OQ Services
            • UOQ Services
          • Data Integrity Services
          • CSV Services
        • Scientific Services
          • Scientific Servicesトップ
          • Scientific Insourcing
          • Instrument Check Services
          • Concierge Services
          • Flow Cytometry
          • Purification Solutions
        • IT Solutions
          • IT Solutionsトップ
          • Lab Computing Services
          • Windows 11 Upgrade Services
          • Cyber Resiliency
    • 保守契約サービス
    • テクニカルサポート
      • テクニカルサポートトップ
      • 分析屋さんが言いたがらない 分析のテクニックあれこれ
        • 分析屋さんが言いたがらない 分析のテクニックあれこれトップ
        • ラボブログに関するお問い合わせフォーム
        • 熱分析屋さんのつぶやき
          • 熱分析屋さんのつぶやきトップ
          • 第1回 熱分析屋さん
          • 第2回 温度が違う その1
          • 第3回 等温結晶化の温度
          • 第4回 ポリマーの切り出し
          • 第5回 荷重って
          • 第6回 比熱の精度
          • 第7回 繰り返し測定の意味って
          • 第8回 横軸が時間?
          • 第9回 分解点?
          • 第10回 降温と昇温の違いは?
          • 第11回 降温と昇温の違いは?その2
          • 第12回 “ガラス転移ってピークになるの?”の前の新年の装置確認の話
          • 第13回 ガラス転移ってピークになるの?
          • 第14回 測定雰囲気をどうしよう...
          • 第15回 温度が違う その2
          • 第16回 水って難しい
          • 第17回 DSCってピークを見る装置じゃないの?
          • 第18回 JIS K 7123の比熱測定って何に気を付けるの?
          • 第19回 JIS K 7123の比熱測定って何に気を付けるの?熱流束編その2@解決編
          • 第20回 (番外編)熱分析って難しすぎ...
          • 第21回 JIS K 7123の比熱測定って何に気を付けるの?入力補償DSC編
          • 第22回 JIS K 7123の比熱測定って何に気を付けるの?入力補償DSC編その2、の前のインジウム作らなきゃ
          • 第23回 “熱分析屋さんのつぶやきの裏側”はじめます。
            • 第23回 “熱分析屋さんのつぶやきの裏側”はじめます。トップ
            • 熱分析関連図書(筆者推薦)
          • 第24回 JIS K 7123の比熱測定って何に気を付けるの?入力補償DSC編その2
          • 第25回 ん?弾性率があわない?DMA編
          • 第26回 “熱分析ってエラーに気づきにくい”かも...
          • 第27回 熱分析のはじめの一歩は5月なのかも
          • 第28回 GOTOトラベルGOTOイートなのでGOTO熱分析という安易なタイトルの件
          • 第29回 “熱を操れ”に乗っかった熱分析を操れないって話...
          • 第30回 熱分析を操ることになってしまった話
          • 第31回 DMA取っておけばよかった
          • 第32回 分析結果の判断のしかたの続きって...つぶやきムービー公開します
            • 第32回 分析結果の判断のしかたの続きって...つぶやきムービー公開しますトップ
            • 第32回 熱分析動画:等温結晶化の測定と解析手順
          • 第33回 (号外)結晶化のピークに再現性がないって話
          • 第34回 容器を間違えたら大変の話
        • ICP-OESラボのあれこれ
          • ICP-OESラボのあれこれトップ
          • ICP-OESラボのあれこれ 目次
          • 第1回 真値と期待値の狭間で
          • 第2回 イオン化干渉との戦いの日々
          • 第3回 プラズマガス流量は少ない方がいい!
          • 第4回 ICP-OES検出下限の計算方法
          • 第5回 有機溶媒の直接導入
          • 第6回 より高感度に測定するためのノウハウ1~超音波ネブライザー編~
          • 第7回 迅速分析のコツ1~無駄な時間を減らそう~
          • 第8回 水素化物発生ICP法のメリットとデメリット
          • 第9回 続・水素化物発生ICP法 ~前処理について~
          • 第10回 ラジアル観測高さの最適位置とは?~発光強度の違いから考察してみた~
          • 第11回 測定積分時間は何秒に設定していますか?それは適切な値ですか?
          • 第12回 ナトリウムとカリウムをICP発光で定量できていますか?
          • 第13回 どんなネブライザーを使っていますか?
          • 第14回 濃度や検出下限値の表記“ppm”で生まれる誤解
          • 第15回 検量線の範囲や測定点数に決まりはあるのか?
          • 第16回 データ解析ソフトを利用して感じた分析化学における多角度からの解析の重要性
          • 第17回 定性分析をどうやるか
          • 第18回 ICP発光の細かい使い方講座1~積分時間と繰り返し回数、定量精度とコスト~
          • 第19回 ICP発光の細かい使い方講座2 ~測定波長の選択と分光器パージ~
          • 第20回 ICPで簡単に類似サンプルや不良品を見分ける方法
          • 第21回 ICP発光の細かい使い方講座3 ~キャリヤーガス流量の選択~
          • 第22回 検量線の直線性と、検出下限値と定量下限値の間は定量できるのか?について考えてみた~ICP発光の場合~
          • 第23回 カリウムをICP発光で正しく測定するためのテクニック(イオン化抑制剤を再考してみた)
          • 第24回 ICPのポンプチューブ、最適な太さを選んだことありますか?~ポンプチューブ内径と、ばらつきの関係を見てみよう~
          • 第25回 低分解能/高分解能モードをAvio500で使い分けるコツ
          • 第26回 微量カリウムをICPで測定するためのメソッド~チャンピオンデータを目指して~
          • 第27回 検量線の直線性の指標である相関係数って大事ですか?
          • 第28回 ICPの再現性、測定のばらつき、相対標準偏差(RSD)を可能な限り向上させるテクニック(第1話/全3話)
          • 第29回 ICPの再現性、測定のばらつき、相対標準偏差(RSD)を可能な限り向上させるテクニック(第2話/全3話)
          • 第30回 ICPの再現性、測定のばらつき、相対標準偏差(RSD)を可能な限り向上させるテクニック(第3話/全3話)
          • 第31回 ICP発光で1%(10,000ppm)まで検量線を書けるのか?
          • 第32回 同軸形ネブライザーをチャンバーにつける深さを気にしたことはありますか?
          • 第33回 セシウム(Cs)をICP発光で1ppbまで測定するためのテクニック紹介(第1話/全2話)
          • 第34回 ICP-OESでハロゲンって測定できますか?(塩素、臭素、ヨウ素)
          • 第35回 分光干渉特集1 リン(P)に対する銅(Cu)の分光干渉を例に
          • 第36回 分光干渉特集2 具体的に分光干渉ってどんなものがあるの?
          • 第37回 「繰返し測定回数」を増やしても測定RSDは改善されないという話題
          • 第38回 ICP発光で硝酸由来のN2、NH2、NOの二原子分子による分子スペクトル線が集合した発光線(バンドスペクトル)の存在は、分光干渉となりえるのか?!の問題について
          • 第39回 分光干渉特集3 鉄(Fe)マトリックスによる分光干渉スペクトルを紹介
          • 第40回 分光干渉特集4 銅(Cu)マトリックスによる分光干渉スペクトルを紹介
          • 第41回 分光干渉特集5 コバルト(Co)マトリックスによる分光干渉スペクトルを紹介
          • 第42回 アキシャルはラジアルよりバックグランドが下がるのか上がるのか議論に決着をつけたい ~ゆくゆくは高感度化に必要なことは何かを考える第一歩~
          • 第43回 プラズマの最適観測位置にはどれくらいの幅があるのか?~どこから採光するかで定量値が変わる!?第1/2話~
          • 第44回 ラジアル測光の観測高さ位置が定量値に与える影響(イオン化干渉)について~どこから採光するかで定量値が変わる!?第2/2話~
          • 第45回 これが現実!内標準補正法に使う内標準元素は何が良いのか?そもそも検量線法より良いのか?
          • 第46回 検量線法の危うさと、内標準補正法の使い方(物理干渉の補正)について~硝酸濃度の問題提議~
          • 第47回 検量線法が無理なら内標準補正をうまく使うしかない~内標準元素の選定、元素・波長毎のイオン化干渉挙動を把握すれば使えるはず~
          • 第48回 検量線法では対応できないサンプルに、内標準補正法を適用しよう(カドミウムや鉛などのイオン線の内標準元素を選ぶ)
          • 第49回 ICP-OESでもネブライザーガス流量の調整は必要?
          • 第50回 分光干渉特集6 金(Au)由来の分光干渉事例から考える波長選択と対策
          • 第51回 多点の検量線を作成すべき時ってどんな時?(検量線の範囲や測定点数の問題について)
          • 第52回 低濃度域を測定するときの検量線はどう設定するほうが良いか?~検出されないことを確認する分析目的などの検量線範囲と濃度設定、検量線式の選択について~
          • 第53回 標準添加法は測定値がばらつく、その対策について
          • 第54回 ICPのポンプチューブをどう収納するか
          • 第55回 ICPで添加回収率の確認実験手順を図で解説~その定量値が妥当かを判断するために~
          • 第56回 ICP-OESではバックグランド補正がデフォルト設定である理由と、どのような補正かについて図解
          • 第57回 ICP-OESのイオン化干渉対策としての抑制剤の利用と、効果的な添加調製濃度は?
          • 第58回 ICP発光で標準添加法ってどうやるの?具体的な作業内容を図解
          • 第59回 ICPプラズマ点灯の安定待ち時間について
          • 第60回 ICPブログウェビナーでいただいたご質問をピックアップして深掘り解説
          • 第61回 続・ICPブログウェビナーでいただいたご質問をピックアップして深掘り解説2 ~ネブライザーの洗浄方法、有機溶媒でアルカリ金属を測定するテクニック~
          • 第62回 標準液(検量線用)と測定サンプルの酸濃度はどれくらい一致させたほうが良いのか?
          • 第63回 ICP-OESのQC機能とは?安定した測定を実現するための活用法
        • ICP-MSラボのあれこれ
          • ICP-MSラボのあれこれトップ
          • 第1回 あなたの調製した1%硝酸は何%硝酸?
          • 第2回 あなたの調製した検量線用標準液は問題ないですか?
          • 第3回 あなたの調製した検量線用標準液は問題ないですか?- 2
          • 第4回 あなたの調製した検量線用標準液は問題ないですか?- 3
          • 第5回 添加回収実験を実施していますか?
          • 第6回 測定するサンプルを理解していますか?
          • 第7回 ICP質量分析装置の感度調整とは出来るだけ感度を高くすること?
          • 第8回 難しいサンプルを測定するときはロバストなプラズマで?
          • 第9回 ICP質量分析装置でナノ粒子の粒度分布の測定ができる?
          • 第10回 なぜ、ICP質量分析装置での反応セルは四重極マスフィルターの方がいいの?
          • 第11回 ICP質量分析装置でのクラスター法(マスシフト法)って何?
          • 第12回 コリジョンガスに用いるヘリウムガスの代替えは無いの?
          • 第13回 ICP質量分析装置でAsを測定する場合、価数を気にしていますか?
          • 第14回 ICP質量分析装置で使用するコリジョン法とリアクション法はどう使い分けするの?
          • 第15回 ICP質量分析装置で使用するRPaとRPqって何?
          • 第16回 ICP質量分析装置で超微量分析を行う時の問題点って何?
          • 第17回 ICP質量分析装置の感度が前処理によって変わるって本当??
          • 第18回 プラズマ分光分析研究会 筑波セミナーで質問の多かった「リアクション法による干渉除去」について解説します。(第1話/全2話)
          • 第19回 プラズマ分光分析研究会 筑波セミナーで質問の多かった「リアクション法による干渉除去」について解説します。(第2話/全2話)
          • 第20回 ICP質量分析法で有機溶媒って測定できるの?-1
          • 第21回 ICP質量分析法で有機溶媒って測定できるの?-2
          • 第22回 Heガス不足対策!ICP質量分析法による水道水、河川水の測定にHeガスがなくても大丈夫!
          • 第23回 Heガス不足対策!ICP質量分析法で水道水をHeなしで測定してみた!(ArとN2のみ)
          • 第24回 ICP質量分析法で測定する質量数m/zやセルの条件はどうやって選択するの?-1
          • 第25回 ICP質量分析法で測定する質量数m/zやセルの条件はどうやって選択するの?-2
          • 第26回 固体試料の分析にはXRFとICP-MSのどっちがいいの?
          • 第27回 数学的干渉補正法(干渉補正式)って本当に大丈夫なの?
          • 第28回 固体試料を酸分解して沈殿物が無ければ測定結果に問題は無いか?
          • 第29回 オートサンプラーって便利だけど、本当にまかせて大丈夫?(QCプログラムの活用法)
        • 前処理、AASラボのあれこれ
          • 前処理、AASラボのあれこれトップ
          • 第1回 もう怖くない! マイクロ波前処理装置 ~前編~
          • 第2回 もう怖くない! マイクロ波前処理装置 ~後編~
          • 第3回 希釈する? そのままやっちゃう? フレーム原子吸光分析での高濃度域の測定
        • クロマト分析 日々のQ&A
          • クロマト分析 日々のQ&Aトップ
          • 第1回 ガスクロマトグラフと液体クロマトグラフの違いは?
          • 第2回 ガスクロマトグラフのカラムって何?
          • 第3回 ガスクロマトグラフのカラムの固定相にはどんな種類があってどう選ぶの?
          • 第4回 HPLCのカラムの選び方は?
          • 第5回 ガスクロマトグラフの検出器には何があって、特徴は何?
          • 第6回 質量分析計(MS)って何?その原理と測定方法は?
          • 第7回 GC/MSの前処理装置(サンプラー)について
          • 第8回 ヘッドスペースサンプラー(HS)について
          • 第9回 ヘッドスペースサンプラー(HS)を用いた定量分析とコツ
          • 第10回 ヘッドスペースサンプラー(HS)を用いた分析のコツ-その2-
          • 第11回 トラップサンプラーについて
          • 第12回 トラップサンプラーの高感度分析に迫る!
          • 第13回 サーマルデソープションシステムについて
          • 第14回 サーマルデソープションシステムを用いた分析のトラブルシューティング
          • 第15回 サーマルデソープションシステムの便利機能
          • 第16回 ガスクロマトグラフィーを用いた定性分析のコツ
          • 第17回 ガスクロマトグラフィーを用いた定性分析のコツ-その2-
          • 第18回 ガスクロマトグラフィーを用いた定性分析のコツ-その3-
          • 第19回 キャリアガスの純度は分析結果に影響する?
          • 第20回 キャリアガスが漏れたら?漏れはどのように検知する?
          • 第21回 新品のカラムはそのまま使って大丈夫?
          • 第22回 カラムをGCに取り付ける時のコツや注意点ってあるの?
          • 第23回 分析条件はどのように決める?
          • 第24回 試料導入のイロハ~その1・インサートの選び方~
          • 第25回 試料導入のイロハ~その2・ディスクリミネーションを防ごう~
          • 第26回 試料導入のイロハ~その3・ディスクリミネーションを防ぐオートサンプラーの活用~
          • 第27回 試料導入のイロハ~その4・サンプルの注入法の選び方~
          • 第28回 試料導入のイロハ~その5・ピークの広がりを抑えよう!~
          • 第29回 試料導入のイロハ~その6・マイクロシリンジをうまく使いこなそう!~
          • 第30回 シリンジのメンテナンスとオートサンプラー使用時の注意点
          • 第31回 GC分析における様々な導入方法~HPLCを用いた導入法~
          • 第32回 GC分析のメソッド開発のまとめ
        • FTIR Blog
          • FTIR Blogトップ
          • FTIR Blog 目次
          • 第1回 今日はブログの紹介・・・
          • 第2回 液体気密IRセルを使用した測定について
          • 第3回 ソフトを使用した定量計算について
          • 第4回 ブログをリニューアルしました!
          • 第5回 短時間で良いスペクトルを得るための測定条件(1) 積算回数
          • 第6回 短時間で良いスペクトルを得るための測定条件(2) 分解能
          • 第7回 短時間で良いスペクトルを得るための測定条件(3) 波数範囲
          • 第8回 ATRクリスタル洗浄時の溶剤選択と注意点
          • 第9回 定量分析 ピークの定量編
          • 第10回 定量分析 単回帰分析編
          • 第11回 定量分析 多変量回帰分析編
          • 第12回 データベース検索を活用した異物の分析解析方法
          • 第13回 差スペクトルの取り方
          • 第14回 アルコール消毒液中のエタノール・イソプロパノール濃度推定
          • 第15回 ライブラリの活用方法
          • 第16回 多成分検索機能で混合物分析
          • 第17回 多成分検索の応用 半定量分析
          • 第18回 新発売ハイエンドFTIR JASISで国内初出展します!
          • 第19回 そのピークの肩にある小さなピーク、見逃してませんか?
          • 第20回 スペクトルの微分でピークを分離してみよう
          • 第21回 微分スペクトルのピークを定量してみよう
          • 第22回 FTIRによる品質検査 -不良品の市場流出を防ぐ-
          • 第23回 FTIRによる品質検査 -良品のばらつきを考慮する-
          • 第24回 異物スペクトルの解析① 有機物か?無機物か?
          • 第25回 異物スペクトルの解析② ポリエチレン
          • 第26回 異物スペクトルの解析③ ポリプロピレン
          • 第27回 異物スペクトルの解析④ スチレン系樹脂
          • 第28回 異物スペクトルの解析⑤ ポリ塩化ビニル (塩ビ樹脂)
          • 第29回 異物スペクトルの解析⑥ アクリル樹脂
          • 第30回 異物スペクトルの解析⑦ ポリエステル
          • 第31回 異物スペクトルの解析⑧ ナイロン(ポリアミド)とタンパク質
          • 第32回 異物スペクトルの解析⑨ セルロース
          • 第33回 異物スペクトルの解析⑩ ニトリル系樹脂
          • 第34回 異物スペクトルの解析⑪ ポリウレタン
          • 第35回 異物スペクトルの解析⑫ ポリカーボネート
          • 第36回 異物スペクトルの解析⑬ シリコーン樹脂
          • 第37回 異物スペクトルの解析⑭ フッ素樹脂
          • 第38回 異物スペクトルの解析⑮ イミド系樹脂
          • 第39回 異物スペクトルの解析⑯ エポキシ樹脂
          • 第40回 異物スペクトルの解析⑰ エチレン酢酸ビニル(EVA)樹脂
          • 第41回 異物スペクトルの解析⑱ ポリアセタール(POM)
          • 第42回 異物スペクトルの解析⑲ 芳香族ポリエーテルケトン(PEEK)
          • 第43回 異物スペクトルの解析⑳ 芳香族ポリスルフィド(PPS, PES)
          • 第44回 異物スペクトルの解析㉑ 無機酸化物(シリカ, ガラス)
          • 第45回 異物スペクトルの解析㉒ 無機酸化物(アルミナ, 酸化鉄)
          • 第46回 異物スペクトルの解析㉓ 無機酸化物(酸化チタン, 酸化亜鉛)
          • 第47回 異物スペクトルの解析㉔ 無機水酸化物
          • 第48回 異物スペクトルの解析㉕ 無機ケイ酸塩(タルク・カオリン)
          • 第49回 異物スペクトルの解析㉖ 無機炭酸塩(炭酸カルシウム等)
          • 第50回 異物スペクトルの解析㉗ 無機硫酸塩(硫酸バリウム等)
          • 第51回 異物スペクトルの解析㉘ 岩石と砂
      • 分析機器製品FAQ
        • 分析機器製品FAQトップ
        • 赤外分光分析、赤外顕微システム、IRイメージング (FTIR)
          • 赤外分光分析、赤外顕微システム、IRイメージング (FTIR)トップ
          • ATRクリスタル調整手順
          • 乾燥剤交換手順
          • パージ手順
          • 乾燥剤交換アラーム更新手順
          • 赤外分光分析
          • 赤外顕微システム、IRイメージング
        • 紫外・可視分光分析、蛍光燐光分析 (UV, LS)
        • 熱分析 (TA)
        • 有機微量元素分析 (EA)
        • 原子吸光分析 (AA)
        • ICP発光分光分析 (ICP)
        • ICP質量分析 (ICP-MS)
        • 無機分析サンプリング (Microwave, FIAS/FIMS)
        • ガスクロマトグラフ分析 (GC, GC/MS)
        • その他全般 (General)
    • 分析機器ユーザーサイト
    • 資料請求・お問合せ
  • 技術情報
    • 技術情報トップ
    • SDS(安全データシート)
    • 技術資料ライブラリー
  • ブログ
    • ブログトップ
    • 熱分析屋さんのつぶやき
    • ICP-OESラボのあれこれ
    • ICP-MSラボのあれこれ
    • 前処理、AASラボのあれこれ
    • クロマト分析 日々のQ&A
    • FTIR Blog
  • イベント・キャンペーン
    • イベント・キャンペーントップ
    • イベント情報
    • キャンペーン&プロモーション
      • キャンペーン&プロモーショントップ
      • Clarus GC・Clarus SQ8 GC/MSソフトウェア更新キャンペーン
  • 分析機器製品一覧
    • 赤外分光分析、赤外顕微システム、IRイメージング
      • Spectrum Two FTIR
      • Spectrum Two N FT-NIR
      • Spectrum 3 FTIR/NIR/FIR
      • Spectrum 3 Optica
      • オイル分析専用FTIR
      • Spotlight Aurora
      • Spotlight 400
    • 紫外可視・近赤外分光分析
      • ラムダ265/365+/465
      • ラムダ850+/1050+
      • TAMS
    • 原子吸光分析装置
      • PinAAcle 500
      • PinAAcle 900F
      • PinAAcle 900Z
      • PinAAcle 900T
      • FIMS 100/400
    • ICP発光分光分析装置
      • Avio 220 Max
      • Avio 550/560 Max
    • ICP質量分析装置
      • NexION 1100
      • NexION 2200
      • NexION 5000
      • ナノ粒子分析・シングルセル分析
    • サンプル前処理システム
      • MPS 320
      • SPBシリーズ
      • FIAS 100/400
    • 熱分析
      • DSC 9
      • STA 9
      • TGA 9
      • TGA 8000
      • DMA 8000
      • Provectus 6500
    • ハイフネーションテクノロジー
    • ガスクロマトグラフ分析
      • GC 2400
      • GC/MS 2400 SQ システム
      • HS 2400
      • Clarus 690 GC
      • TurboMatrix Trap 40/110
      • TurboMatrix HS 40/110
      • TurboMatrix 300TD/350・650ATD
    • 液体クロマトグラフ分析
      • LC300
      • QSight
    • 食品分析
      • DA 7250
      • DA 7350 In-line
      • DA 7440 On-line
      • IM 9500
      • IM 9520
      • IM 8800
      • LactoScope
      • AM 5200
      • NetPlus
      • RVA
      • Falling Number
      • Glutomatic 2000 System
      • doughLAB
      • Lab Mill
      • SPD 4200
      • AuroFlow AQ Strip Tests
      • QuickSTAR Horizon Strip Reader
      • MaxSignal ELISA Kit
      • MaxSignal 4302 マイクロプレートリーダー
  • OneSource Laboratory Solutions
  • アドバンスドマテリアル及び化学
    • 高機能材料
      • ガラス&コーティング
      • セラミックス
      • ナノマテリアル
    • 自動車産業
    • 化学&ファインケミカル
      • 農薬
    • エネルギー&再生可能エネルギー
      • バッテリー
      • 燃料&バイオ燃料
      • 石油化学
      • 太陽電池
    • 潤滑油&冷却水
    • 高分子&プラスチック
      • 研究開発
      • 原材料や製品の品質管理
      • プラスチックリサイクル
      • マイクロプラスチック分析
      • パッケージ分析
    • 半導体&電子材料
      • 半導体・エレクトロニクス オンデマンド e-ライブラリー
  • 環境分析
    • 水質分析
      • 飲料水
      • 地表・地下水
      • 廃水
      • ISO17294に準拠した水質分析
      • 海水
    • 大気分析
    • 土壌分析
    • 汚染物質
      • PFAS
    • サステナビリティ
      • 再生可能エネルギー
      • バッテリー
      • 半導体&電子材料
      • 水の再利用
      • 持続可能な農業
      • グリーンケミストリー
      • プラスチックリサイクル
  • 食の安全及び品質検査
  • 医薬品及び生化学
  • 製品に関するお知らせ
  • 装置の故障や点検について
  • 消耗品のご購入やお問合せについて
  • OneSource Laboratory Solutions
    • Digital Transformation Services
      • Asset Utilization & Optimization
      • Descriptive Analytics & Interactive Dashboards
      • Asset Location
      • Remote Support
    • Instrument Services
      • Asset Optimization
      • Relocation Services
    • Lab Workflow Solutions
      • Compliance Services
      • Scientific Services
      • IT Solutions
  • 保守契約サービス
  • テクニカルサポート
    • 分析屋さんが言いたがらない 分析のテクニックあれこれ
      • 熱分析屋さんのつぶやき
      • ICP-OESラボのあれこれ
      • ICP-MSラボのあれこれ
      • 前処理、AASラボのあれこれ
      • クロマト分析 日々のQ&A
      • FTIR Blog
    • 分析機器製品FAQ
      • 赤外分光分析、赤外顕微システム、IRイメージング (FTIR)
      • 紫外・可視分光分析、蛍光燐光分析 (UV, LS)
      • 熱分析 (TA)
      • 有機微量元素分析 (EA)
      • 原子吸光分析 (AA)
      • ICP発光分光分析 (ICP)
      • ICP質量分析 (ICP-MS)
      • 無機分析サンプリング (Microwave, FIAS/FIMS)
      • ガスクロマトグラフ分析 (GC, GC/MS)
      • その他全般 (General)
  • 分析機器ユーザーサイト
  • 資料請求・お問合せ
  • SDS(安全データシート)
  • 技術資料ライブラリー
  • 熱分析屋さんのつぶやき
  • ICP-OESラボのあれこれ
  • ICP-MSラボのあれこれ
  • 前処理、AASラボのあれこれ
  • クロマト分析 日々のQ&A
  • FTIR Blog
  • イベント情報
  • キャンペーン&プロモーション
  • 会社概要
  • 地図
  • 採用情報
  • プライバシーポリシー
    • 個人情報保護方針
    • 個人情報の利用目的
    • 開示等の請求手続き
    • 個人情報保護相談窓口
  • CSR
    • パーキンエルマー震災復興支援プロジェクト
      • 福島大学復興支援プロジェクトへの参画
    • Science Tokyo(東京科学大学)TCカレッジ
ホーム>会社案内

会社案内

  • 会社概要
  • 拠点
  • 採用情報
  • CSR(企業の社会的責任)
Page Top
  • About PerkinElmer
    • 会社概要
    • 地図
    • 採用情報
    • プライバシーポリシー
  • Connect
    • お問い合わせ
    • カタログ請求
    • 修理受付
    • メルマガ登録
  • Resources
    • 技術資料ライブラリー
    • SDS(安全データシート)
    • 分析屋さんが言いたがらない分析テクニックあれこれ
    • イベント
    • キャンペーン
  • Support
    • サービス·サポート
    • 該非判定資料
    • 消耗品カタログ検索フォーム
    • 資料請求·お問い合わせ
    • 分析機器ユーザーサイト
    • 分析機器代理店サイト
Location: Japan(Change USA)
COPYRIGHT © 1998-2025 PerkinElmer All Rights reserved