バッテリー | サステナビリティ - PerkinElmer Japan

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パーキンエルマーは、持続可能なイノベーションを支援するために、次世代のエネルギーソリューションに取り組む科学者、研究機関、メーカーとパートナーシップを結んでいます。エネルギー生成、エネルギー貯蔵、バッテリーリサイクルのどの分野においても、パーキンエルマーは、お客様の研究を推進するために必要な重要情報を提供する分析ソリューションを用意しています。

Batteries & Energy Storage Resources

赤外顕微鏡システムによる製造プロセスで発生した異物の分析
製品は必要な部品や成分のみで構成され、それ以外の部品や成分は含まれないように設計されています。しかしながら、最終製品の内部に予期しない汚染物として異物が存在することもあります。異物は製品の品質...
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全自動赤外顕微鏡システムによる車両塗装片の分析
交通事故現場で発見される塗装片から得られる情報は、事故の証拠として非常に重要です。事故の際に微量の塗装片が車両から被害者の衣服表面などに付着することがあります。これらの塗装片を分析することで...
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赤外顕微鏡の自動測定を用いた複数領域の迅速な定性分析
赤外顕微鏡測定は最小数 μm までの微小試料の測定、定性に使用される一般的な分析法です。ごく一部の例を挙げても、高分子、医薬品、化学薬品、食品、および電子機器の産業で幅広く使用されています。...
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赤外顕微システムによる高分子積層材料の分析
多層からなる高分子積層フィルム（ラミネート）は、さまざまな産業分野で使用されています。この材料の用途として、食品や日用品の包装材があります。様々な内容物を適切に保護する目的であるため、多くの場...
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グラファイトファーネス原子吸光分析法による超高純度試薬およびフォトレジスト剥離液中の超微量分析
半導体産業では、非常に複雑な試料マトリックスや腐食性の高い酸の分析において、サブppb 領域のような超微量の金属を定...
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Multiwave 3000を使ったAl2O3とZrO2の同時分解検討
ＩＣＰ質量分析法やＩＣＰ発光分光分析法、原子吸光分析法などで分析されるサンプルは、主に溶液として装置に導入されます。そのため、固体サンプルは測定前に溶液化する必要があります。ここでは、高圧密閉試...
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Multiwave 3000マイクロウェーブ試料前処理装置を用いた酵素燃焼システム
マイクロウェーブを用いた試料前処理技術はこれまでにも利用されてきましたが、その大半は酸を用いて固体試料を溶液化するアプリケーションに限定されていました。分...
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Multiwave 3000マイクロウェーブ試料前処理装置によるポリエチレン標準試料の分解－正確な測定・迅速な処理・汚染管理－
マイクロウェーブを利用した試料前処理法は近年ではRoHSやWEEEへの対応として、固体試料を迅速に前処理できる方...
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フローインジェクションシステムFIAS-100/400の概要と水素化物発生法による各元素の分析条件について
フローインジェクション-水銀／水素化物発生元素分析システム（FI-MHS）について、特長と分析作業に関連する項目を記載し...
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MHS-15　水銀／水素化物発生システム
MHS-15（水銀/水素化物発生システム）は、As、Se、Sb、Te、Bi、Snのような水素化物を形成する元素やHgを、原子吸光分析法において高感度に測定するためのアクセサリーです。As、Seなどの元素は水素...
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HGAグラファイトファーネス
化学修飾剤を使用してデータの信頼性・作業効率向上をはかる
ファーネス分析における化学修飾剤の使用は、試料中に含まれる共存物質の妨害を最小限に抑えることが可能となります。微量金属の定量を行う際には、重要な手法とさ...
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THGAグラファイトファーネス
化学修飾剤を使用してデータの信頼性・作業効率向上をはかる
ファーネス分析における化学修飾剤の使用は、試料中に含まれる共存物質の妨害を最小限に抑えることが可能となります。微量金属の定量を行う際には、重要な手法とさ...
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NexION 5000 ICP-MS を用いた高純度酸化イッテルビウム中の希土類不純物の直接定量法
希土類元素（REEs）は、工業用品や家電製品など、多くの先端技術を支える材料として欠かせない重要な存在です。REEs の特性と価格はその純度に依存するため、高純...
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NexION 5000 ICP-MS を用いた高純度酸化ネオジム中の希土類不純物の直接定量法
希土類元素（REEs）は、ランタノイド系元素に、Sc およびY を含めたものです。これらの金属は、携帯電話やテレビを始め、LED 電球や風力タービンに至るまで、いくつか...
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NexION 5000 SP-ICP-MS による半導体産業用薬液中の金属ナノ粒子の分析
半導体製品における金属汚染はデバイスの性能に悪影響を及ぼし、製造プロセスの歩留まりにも影響を与えます。ウェーハの歩留まりと性能を高めるという要件を満たす...
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prepFAST SおよびNexION 5000 ICP-MSを用いた半導体グレードふっ化水素酸の自動分析
半導体技術の進歩やマイクロチップの微細化に伴い、使用する薬液の純度や製造工程に対して改善が求められています。歩留まりを向上させながら10 nm 未満の微細化...
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prepFAST S およびNexION 5000 ICP-MS を用いた半導体グレード硝酸の自動分析
半導体技術の進歩やマイクロチップの微細化に伴い、使用する薬液の純度や製造工程の改善が求められています。歩留まりを向上させながら10 nm 未満の微細化を進め...
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NexION 5000 ICP-MS を用いた高純度シリコンマトリックス中の微量不純物分析
けい素（Si）は酸素に次いで地殻に多く含まれる元素で（約28 質量%）、地殻の90% 以上はけい酸塩鉱物で構成されています。けい素鉱物の約20% は冶金グレードの純...
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NexION シングルパーティクルICP-MS を用いたNIST 金ナノ粒子標準物質の分析
工業用途のナノ材料（Engineered Nanomaterials： ENs）とは、元素等を原材料として製造された固体材料を指し、その粒子の大きさを示す三次元のうち少なくとも...
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NexION 5000 ICP-MS による高純度酸化ガドリニウム中の希土類不純物の直接分析
希土類元素の多くは触媒や磁石として使用されており、近年では低炭素化技術に応用されています。また、その他の用途として特殊合金、ガラス、高性能電子機器の製造...
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NexION 2000 ICP-MS を用いたリチウム材料中の不純物測定
環境への関心が高まる中、大容量で長寿命、そしてリサイクルが可能なリチウム電池を搭載した機器が増えています。すべての製品と同様、リチウム電池においても安全性と性能は非常に重要ですが、電池の構...
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NexION 5000 ICP-MS を用いたリチウム材料中の不純物測定
リチウム（Li）は日常生活の中で重要な役割を担っており、現代の生活におけるほぼすべての場面において、私たちの身の回りに存在しています。リチウムの一般的な用途の一つに電池があります。リチウム電池...
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NexION 5000 ICP-MS を用いた高純度酸化セリウム中の希土類不純物の直接定量法（中国標準規格 GB/T 18115.2-2020 に準拠）
希土類元素（REEs）は、原子番号57～71 のランタノイド系元素に、スカンジウムおよびイットリウムを加えた17元素の総称です。...
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NexION 2000 を用いたレーザーアブレーション‐ICP-MSによる希土類元素の分析
スマートフォン、カメラ、コンピューター、LED ライトなどの一般消費者向け製品をはじめ、再生可能エネルギーや蓄電池の飛躍的な進歩、医療や材料科学の改善に至る...
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マルチ四重極ICP-MS NexION 5000を用いた超高純度N-メチル-2-ピロリドン中の金属不純物分析
近年、半導体デバイスの微細化、高性能化に伴い、歩留まりの原因となる金属汚染を防ぐことが必要不可欠となっており、それに伴い、半導体製造プロセスで使用され...
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NexION 1000 ICP-MS を用いたリチウムイオン電池の正極材料に含まれる不純物分析
リチウムイオン（Li-ion）電池の正極材料において、特に活物質を構成する元素の比率と不純物の濃度は、充放電特性と安全性に大きな影響を与えます。例えば、正極材...
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NexION 1000 ICP-MS を用いた正極材料中の塩化物の分析
リチウムニッケルコバルトマンガン酸化物（LNCM）は電気容量が高く、りん酸鉄リチウム電池よりも製造コストが安価な三元系リチウムイオン電池の主要な正極活物質です。塩化物（Cl）は、電池の充放電効率と...
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自動標準添加装置(ASAS)-ICP-MS を用いた半導体グレード薬品の分析
半導体製造工程では様々な薬品が使用され、これらの薬品に要求される金属不純物の濃度は、ますます低くなっています。誘導結合プラズマ質量分析法（ICP-MS）は、...
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ガス交換装置（GED）ICP-MSを使用した塩化水素ガス中の金属不純物の直接分析
現在の生活環境において、半導体はあらゆる電気を使用する機器に使用され、欠かせないデバイスになっています。そして、集積度が高くエネルギー消費を抑えた上で、よ...
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LA-ICP-DRC-MS 法による金属材料中の不純物分析
本報では、LA-ICP-DRC-MS法により、金属アルミニウム中の不純物（Pb）分析を行った事例を報告します。レーザーによる試料アブレーション量の変動を、主成分であるAl を用いることで補正し、良好な結果を得まし...
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全自動VPD-ICP-MS を使用したシリコンウェーハ中金属不純物測定
シリコンウェーハは、スライス状のシリコン物質で、最先端の電子工業分野で広く使われています。シリコンは最もよく使用されている半導体材料で、コンピューターやスマートフォンなどの日常的に使用されている電...
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種々のセルガスを用いたNexION 5000 ICP-MS による希硫酸中の非金属元素の極微量分析
半導体の製造がマイクロレベルで行われるにつれて、ICP-MSによる非金属元素の極微量分析への需要が高まっています。硫酸マトリックスの溶液では、プラズマガスや...
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NexION 5000 ICP-MS による電子工業用グレード塩酸中の不純物分析
半導体デバイスの製造時には、シリコンウェーハに汚染物質や不純物がないことを確認することが重要です。ウェーハは熱処理前に、ウェット処理による洗浄工程に入りま...
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NexION 5000 ICP-MS による半導体用グレード過酸化水素水の分析
半導体の製造プロセスでは化学製品が使用されており、それらに含まれる汚染物質（粒子、微量の金属や非金属など）は、製品の歩留まりとデバイスの信頼性に直接影響します。集積回路（IC）製造において、ウェ...
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NexION 5000 ICP-MS を使用したIC 製造向け有機溶媒中の金属不純物分析
集積回路（IC）の製造には、高純度な半導体材料で作られたウェーハ上にチップを徐々に作成するなどのさまざまな処理工程があります。ウェーハにはけい素（シリコ...
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NexION 5000 ICP-MS による希硝酸中の非金属元素の超微量分析
硝酸（HNO3）は、半導体産業や電子工業産業のあらゆる工程で幅広く使用され、使用される分野や意図した用途において、さまざまな純度グレードが求められています。たとえば、シリコンやさまざまな金属のウエ...
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高純度硫酸中の超微量元素分析
電子機器の製造手順の中には、超高純度の化学薬品の使用を必要とする複雑なプロセスがあります。高純度グレードの硫酸（H2SO4）は一般的に、部材の洗浄やシリコンウェハー上の金属や有機不純物のエッチングに用いられます。硫酸使用例の1 つと...
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NexION 5000 ICP-MSにおける超純水の分析
半導体産業はより速く、より小さく、より消費電力が少ない革新的なデバイスの開発を継続的に行ってきました。より改良された製品を開発し続けるためには、重要な機構を小さくするとともに欠陥を最小限に抑える必要...
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NexION 2000 ICP-MSを用いた10 nm金ナノ粒子の粒径と粒子濃度の精確な測定
ナノマテリアルの急速な開発および多様な消費財への展開により、サイズや組成が様々なナノ粒子（NP）の特性評価を迅速かつ精確に実施する必要性が生じています...
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SP-ICP-MS法による各種水試料における金-銀コアシェルナノ粒子の変化に関する検討
工業ナノ粒子（ENP）は工業プロセスおよび一般消費財の両方に用いられており、その用途のために特性や特徴はよく制御されています。それらが使用されることで、当然...
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標準モードSP-ICP-MS法によるSiO2ナノ粒子の分析
ナノテクノロジーの発展と多くの製品や工程へのナノ粒子使用の増大により、ナノ粒子の特性評価の必要性が増しています。ナノ粒子は広く様々な化合物に利用されていますが、二酸化ケイ素（SiO2）ナノ粒子は塗...
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シングルパーティクルICP-MS法における飲料水中の銀・金・二酸化チタンナノ粒子の迅速分析
産業プロセスや一般消費財におけるナノ粒子（NPs）の使用が増加しています。そのため、産業廃棄物や一般消費財の廃棄により、ナノ粒子の環境への放出が懸念され...
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シングルパーティクルICP-MS法における日焼け防止剤中の二酸化チタンナノ粒子分析
二酸化チタン（TiO2）ナノ粒子は、有害な紫外線を遮断する成分として日焼け防止剤に含まれていることが一般的です。一般消費財へのナノ粒子（NPs）の使用が増加して...
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リアクションモードシングルパーティクルICP-MS法を用いた半導体産業用有機溶剤中の鉄ナノ粒子分析
半導体製品における金属汚染はデバイスの性能に大きな悪影響を及ぼします。チップ上の線幅が細くなっていることで、許容される金属汚染レベルも同時に減少していま...
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SP-ICP-MS法による鉄ナノ粒子の分析：ユニバーサルセルテクノロジーによる多原子イオン干渉への対応
ナノ粒子への関心の高まりから、ナノ粒子の検出・測定を行う様々な手法が使用されていますが、金属ナノ粒子を測定する手...
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シングルパーティクルICP質量分析法(SP-ICP-MS法)の原理を理解する
ナノテクノロジーは急速に発展している新たな技術であり、その可能性は科学者や技術者に多くの課題をもたらしています。ナノ粒子は、多くの材料や製品に利用されてお...
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SP-ICP-MSによるダイエットサプリメント中の銀ナノ粒子の特性評価
ナノ粒子は、1～100nmの粒子のことを指し、小さな粒子サイズで大きな比表面積を有するため、バルク材料とは異なる化学的・物理的な特長を有します。ナノ粒子は、多数の一般消費財に対して様々な用途で使用...
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化学機械研磨剤として使用される酸化物ナノ粒子スラリーのSP-ICP-MS法による特性評価
本報では、半導体表面の化学機械研磨（CMP）剤としてナノエレクトロニクスや半導体製造産業で一般的に用いられている酸化物ナノ粒子（Al2O3やCeO2）の定量とそ...
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においかぎ装置及びTrap-GC/MSを用いたにおい成分の測定
食品のにおい成分は、味を決める要素の一つとなるため、食品業界においてはその成分を見極め、含有量を測定することは大変重要になります。しかし食品のにおい成分は低濃度であるため、人の鼻で検知する...
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ヘッドスペース法による高分子・工業材料中の揮発性成分の分析　－MHE法と標準添加法－
ヘッドスペース法による高分子・工業材料中の有機溶剤、添加剤などの揮発性成分の分析法とその実測例を紹介します。気液平衡の成立する液体試料は標準添加法、...
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半導体関連のアウトガス分析に用いる加熱脱着法とそのノウハウ
半導体関連部品のアウトガス分析に用いられる熱脱着－GC/MS法で重要なポイントとなるバックグラウンドの低減化について、ブランク原因とその対策および流路の汚染原因とその防止策を検討しました。ブランク...
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熱脱着法における捕集チューブとトラップ剤の選択
空気中の揮発性有機化合物の分析、固体試料からのアウトガス分析など多くの分野に加熱脱着法が利用されています。加熱脱着法を有効に利用するには、分析目的に適合した捕集チューブ（捕集剤）およびトラッ...
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土壌汚染分析における熱脱着法、ヘッドスペース法
土壌汚染対策法に示された特定有害物質の揮発性有機化合物（VOC）については、「土壌ガス調査と土壌溶出量調査を組み合わせた調査を行う」としています。本報では、熱脱着法による土壌ガス分析および...
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ヘッドスペース分析における定量－標準添加法－
マトリックスの不明な液体試料中の揮発性成分の定量に有効なヘッドスペース分析における標準添加法及びその実分析例を紹介します。水中のVOC（100ppmトルエンなど）成分が共存物（％オーダーの食塩ま...
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電気・電子材料中有害物質の分析 -WEEE、RoHSに対応した分析-
欧州官報としてWEEEおよびRoHSに関するDirective（指令）が2003年２月13日に発効され、2006年７月１日以降，鉛，水銀，カドミウム，六価クロム，ポリ臭素化ビフェニル及びポリ臭素化ジフェニルエーテルを非...
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