NexION　ICP質量分析装置 New

NexION

直観的に使用できるソフトウェア、干渉の有無や難易度によって3つのモードを選択できる特許技術「UCT」（ユニバーサルセルテクノロジー）により、分析者のスキルに依存せず、誰でも簡単に高感度で精確な測定が可能です。
アクセスしやすい装置デザイン、試料導入系、イオンレンズ系などに新たな技術を多数導入し、洗浄やメンテナンス頻度の最小化を実現しました。

 

  • 精確な分析結果が得られていますか？
    使用するセルガスに制限がなくなり、多原子イオン干渉から解放され分析に対して妥協することなく思いのままに測定する事が可能です。
  • 分析者のスキルに依存しません！
    独自のセルガス排気システムにより測定モードの切換にストレスがありません。最高の精度、究極の検出下限値、最速の分析時間を備えながら初心者でも簡単に操作できる設計です。

詳細の続きはカタログをご請求いただくか、弊社営業にお問合せください。

 

DO THINGS THE WAY YOU WANT WITH THREE MODES OF OPERATION.
多原子イオン干渉除去レベル
     
    REACTION
MODE
  COLLISION
MODE
STANDARD
MODE
BEC
(バックグラウンド 相当濃度)		 LOW LOWER LOWEST
原理 セル内にガスを流さずに測定するモードです。ガスとの衝突が起きないため分析元素の感度低下が起きません。セルに搭載されているベントバルブ（排気弁）によりセルに残留ガスが残らないためコリジョン/リアクションモードから素早く切り替えることが可能です。 反応性が無いガス（He）をセル内に導入し、多原子イオンに衝突させ、分析対象元素とのエネルギー差を利用して干渉を除去する方法です。 反応性の高いガス（メタン、アンモニアetc）をセル内に導入し、多原子イオンと反応させ分析する方法です。このときユニバーサルセル内の四重極により反応副生成物の発生を抑制することが可能です。
アプリケーション 干渉がほとんどない元素を分析するのに最適です。 食品、環境、生体試料などの分析において簡単に干渉を除去する事が可能です。 材料、半導体分析などの干渉を完全に除去して究極の検出下限値を求めることが可能です。
干渉除去機能 干渉補正式 コリジョン
エネルギー弁別 		ダイナミックリアクションセル/BPT
セルガス 使用しません 不活性ガス 反応ガス
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生成されたイオンは、革新的なトリプルコーンインターフェースと特許のQID（Quadrupole Ion Deflector）によって従来のICP-MSと比べ、より多くのイオンを収束させ、より効果的に導入することが可能になりました。

  • 長時間のすぐれた安定性を実現
    トリプルコーンインターフェースとQIDの組み合わせにより、中性物質の除去と光子の侵入を防ぐことができ、高濃度のマトリクスサンプル測定時にもドリフトを抑えます
  • すぐれた再現性を実現
    非イオン化物質を効率よく除去する設計がNexION300の汚染を最小限に抑えます。
  • メンテナンス頻度の最小化を実現
    煩雑な作業も不要で、作業効率を格段に向上させます。セルの洗浄や定期的な交換は一切不要です。

 

NexION 300 ICP-MS ： AVAILABLE CONFIGURATIONS
モデル 概要 アプリケーション
300Q セル無し
（ユニバーサルセルのアップグレード可能）		 地球科学および原子力アプリケーション用
300X シングルチャンネルユニバーサルセル
（1ガスライン）		 環境、食品および生体試料アプリケーション用
300D デュアルチャンネルユニバーサルセル
（2ガスライン）		 材料および製薬アプリケーション用
300S デュアルチャンネルユニバーサルセル
（2ガスライン）高感度仕様		 半導体および高感度分析アプリケーション用

 

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