光学材料の正確な分析のために求められる装置要件:PerkinElmer 983分散型赤外分光光度計とFrontier Optica FT-IRの比較 - PerkinElmer Japan

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光学材料の正確な分析のために求められる装置要件:PerkinElmer 983分散型赤外分光光度計とFrontier Optica FT-IRの比較

光学材料を測定する際に標準的なFT-IR を使用した場合、様々な測定誤差が発生することが報告されています。その測定誤差を克服するためにPerkinElmer は、Frontier Optica の開発に挑戦しました。社内および外部テストラボで行った検証結果では、光学材料の測定においてFrontier Optica を用いることにより、これまでよりも優れた性能が得られました。

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