資料請求・お問合せはこちら
光学材料を測定する際に標準的なFT-IR を使用した場合、様々な測定誤差が発生することが報告されています。その測定誤差を克服するためにPerkinElmer は、Frontier Optica の開発に挑戦しました。社内および外部テストラボで行った検証結果では、光学材料の測定においてFrontier Optica を用いることにより、これまでよりも優れた性能が得られました。
必要事項入力、送信いただくと資料をダウンロードいただけます。 ※この項目は必ず入力してください。