FTIR による近赤外ダイオードレーザーの分光強度特性評価 - PerkinElmer Japan

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FTIR による近赤外ダイオードレーザーの分光強度特性評価

レーザーは単一の波長の光が同じ位相で出力される発光素子と一般消費者には理解されています。しかし実際にはレーザーには縦モードと呼ばれる発振波長の分布が存在します。レーザーのスペクトル出力の特性の評価は、単に波長計による中心波長の測定と比べて、様々な情報を得られます。モード間のエネルギー分布は、温度や電流の影響を受け、ランダムに変化する可能性があります。FTIR は、内蔵のHe-Ne レーザーに由来する極めて正確な波数目盛りと高分解能、高速測定を兼ね備えており、この研究に適しています。高感度であるため、弱いサイドバンドを観察することができます。
このアプリケーションノートでは、Spectrum 3 近赤外分光光度計(NIR)を用いて、785 nm で動作するピーク幅 0.26 nm の近赤外ダイオードレーザーのスペクトル出力を評価した例を紹介します。

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