NexION 2200 ICP-MS を用いた石油製品中のSi、P、S、As、Hg 分析

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NexION 2200 ICP-MS を用いた石油製品中のSi、P、S、As、Hg 分析

石油製品の分析では、サンプルの揮発性が高いため、プラズマが不安定になったり消灯したりする特有の問題があります。また、試料導入系やインターフェースコーンに、炭素が堆積する可能性があります。さらに、石油サンプルの調製に使用する溶媒がSi、P、S などによって汚染されている場合は、検出レベルに影響を与える可能性があります。しかし、最大の課題はスペクトル干渉ですが、これらの問題はPerkinElmerのICP-MS NexION シリーズが簡単に解決します。
本レポートでは、NexION 2200 ICP-MS を使用して、石油製品に含まれる5 元素の分析事例を紹介します。

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